日本日置IM3570阻抗分析儀 日本日置IM3570阻抗分析儀1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 日本日置IM3570阻抗分析儀LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 基本精度±0.08%的高精度測量 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量 主機不標(biāo)配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
日本日置IM3570阻抗分析儀
測量模式
LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量
測量參數(shù)
Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
測量量程
100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
顯示范圍
Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示**值 θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
基本精度
Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
測量頻率
4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）
測量信號電平
V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上）
輸出阻抗
普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
顯示
彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF
測量時間
0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）
測量速度
FAST/MED/SLOW/SLOW2
其他功能
DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能
接口
EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN
電源
AC90~264V，50/60Hz，*大150VA
打印
拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）
GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))
體積和重量
330W×119H×307Dmm，5.8kg
附件
電源線×1，使用說明書×1，通訊手冊×1
粵公網(wǎng)安備 44030402001250號