標(biāo)準(zhǔn)平面

貨號(hào)：AUBAT-YT5510

平面形狀探測(cè)誤差（SD) 尺寸可定制

啞光陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平面特性：

啞光表面：?jiǎn)」獗砻婺軌虍a(chǎn)生漫反射，減少光線在表面的直接反射，從而降低測(cè)量過(guò)程中的干擾和誤差。

高精度：?jiǎn)」馓沾善矫娴拿嫘尉葮O高，能夠確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。其平面度偏差允許值通常非常小，如達(dá)到微米級(jí)甚至更小的精度。結(jié)構(gòu)光光學(xué)計(jì)量技術(shù)中不可或缺的標(biāo)準(zhǔn)參考工具。

穩(wěn)定性：陶瓷材料具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和耐磨性，能夠確保標(biāo)準(zhǔn)平面在長(zhǎng)期使用過(guò)程中保持其精度和性能。

在結(jié)構(gòu)光計(jì)量中的應(yīng)用：

校準(zhǔn)與驗(yàn)證：?jiǎn)」馓沾善矫嬖诮Y(jié)構(gòu)光計(jì)量系統(tǒng)中被用作校準(zhǔn)和驗(yàn)證工具。通過(guò)將其放置在測(cè)量系統(tǒng)??，可以確保測(cè)量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

標(biāo)準(zhǔn)參考：在測(cè)量過(guò)程中，啞光陶瓷平面作為標(biāo)準(zhǔn)參考面，用于與被測(cè)物體表面進(jìn)行比較，從而評(píng)估被測(cè)表面的形狀和精度。

誤差補(bǔ)償：通過(guò)測(cè)量啞光陶瓷平面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，可以計(jì)算出測(cè)量系統(tǒng)的誤差，并進(jìn)行相應(yīng)的補(bǔ)償，以提高測(cè)量精度。

具體校準(zhǔn)方法：

測(cè)量系統(tǒng)光軸平行于z軸方向，標(biāo)準(zhǔn)平面應(yīng)在所有測(cè)量位置垂直于平面。標(biāo)準(zhǔn)平面在測(cè)量空間的至少6個(gè)不同位置安裝。測(cè)量得到標(biāo)準(zhǔn)平面工作面的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，計(jì)算每個(gè)測(cè)量方向的*佳擬合平面。分布在擬合平面兩側(cè)的點(diǎn)，到擬合平面單側(cè)距離*大值的代數(shù)和作為該位置平面形狀探測(cè)誤差。取各位置中*大值，作為平面形狀探測(cè)誤差下的測(cè)量結(jié)果。

更多信息可參考《JJF1951-2021基于結(jié)構(gòu)光掃描的光學(xué)三維測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范》

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