本膜厚測量儀適用于nm及um級薄膜厚度測量，測量的空間分辨率（測量點(diǎn)的大?。┛蛇_(dá)10um，厚度測量準(zhǔn)確度為nm級。
此款膜厚測量儀適用于：
顯示器、觸摸屏、太陽能電池、R2R 光學(xué)鍍膜等產(chǎn)業(yè)的薄膜厚度測量
光學(xué)材料參數(shù)測量、彩色濾光片色度及穿透率測量。(如：Oxide, Nitride,
ITO, RGB CF, PR, PI…@ Si, Glass, PET…等樣品)
技術(shù)參數(shù)：
1.厚度測量范圍：10 nm ~ 30 μm (采用Ocean Optics 光譜儀)
(Optional: up to 250 μm)
2.厚度測量重復(fù)性：< 1 nm @ 500 nm Oxide on Si
3.測量點(diǎn)大小 : Macro(~3 mm)
(Optional 選項(xiàng)加顯微鏡 : 10 μm – 3 mm)
4.測量時(shí)間：< 1 sec
5.其它功能：折射率(n)及消光系數(shù)(k)測量
反射率(R)及穿透率(T)測量
色度參數(shù)(x, y, Y, L*, a*, b*)測量
(Optional:在線檢測、實(shí)時(shí)8-16 通道測量)
6. 機(jī)臺(tái)尺寸：長寬高約31*27*30 (cm)。
- 溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn)，建議您在購買前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)與產(chǎn)品質(zhì)量。
- 免責(zé)申明：以上內(nèi)容為注冊會(huì)員自行發(fā)布，若信息的真實(shí)性、合法性存在爭議，平臺(tái)將會(huì)監(jiān)督協(xié)助處理，歡迎舉報(bào)
