手機(jī)翻蓋壽命測試儀適用于手機(jī),電子詞典等小型消費(fèi)類電子制品及零部件之掀合壽命試驗(yàn)，是掀合類成品與半成品試驗(yàn)檢測必不可少的試驗(yàn)儀器。 主要技術(shù)參數(shù): 品名:手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)機(jī) 型號:XK-SF2D 測試工位：2個（同時工作） 掀合角度：5~150度任一可調(diào) 測試速度：5~30轉(zhuǎn)/min可調(diào) 顯示方式：LED顯示 電源：AC220V/50Hz 傳動方式：電動傳動 計(jì)數(shù)器：八位計(jì)數(shù)器（0~99999999，帶設(shè)定次數(shù)停機(jī)功能，帶斷電保存記憶功能） 深圳硒控儀器專注于試驗(yàn)機(jī),檢測儀及品管設(shè)備的研發(fā)生產(chǎn)及銷售,如你對該類產(chǎn)品有需求,可致電硒控儀器. http://www.szxitie.com