[摘要]在對(duì)EHI電源濾文器插入損耗進(jìn)行分析的基礎(chǔ)上，介紹了一種用屏蔽室環(huán)境對(duì)濾文器插入損耗進(jìn)行測(cè)試的方法。并對(duì)已有的濾波器進(jìn)行測(cè)試與分析，指出了I／0端電磁耦合對(duì)EMI濾文器插入損耗的重大影響及屏蔽測(cè)試的良好效果。 關(guān)鍵詞 EMI 濾波器 插入損耗 屏蔽 接地