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第17年
- 入駐時(shí)間: 2007-09-30
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
CH-1-S薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
詳情介紹:
CH-1-S薄膜測(cè)厚儀主要參數(shù)
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上測(cè)頭曲率半徑:15-50mm
3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我:0.1-0.5N
4. 測(cè)量精度:100vm以內(nèi)<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm
1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm
2. 上測(cè)頭曲率半徑:15-50mm
3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我:0.1-0.5N
4. 測(cè)量精度:100vm以內(nèi)<1vm
100-250vm<2vm
250vm<3vm
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