瞬時(shí)記憶試驗(yàn)儀 EP807
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
瞬時(shí)記憶試驗(yàn)儀 產(chǎn)品型號(hào):EP807 產(chǎn)品概述: 瞬時(shí)記憶是指?jìng)€(gè)體接觸刺激對(duì)象而產(chǎn)生感覺(jué)經(jīng)驗(yàn)后,保留短暫時(shí)間能力的一種心理品質(zhì)。這種處于未經(jīng)加工的**階段記憶模式若不予注意,存貯的信息量將很快喪失,但瞬時(shí)記憶可有助于信息的積累,為感知事物的連續(xù)性提供了可能性。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
瞬時(shí)記憶試驗(yàn)儀
產(chǎn)品型號(hào):EP807
產(chǎn)品概述:
產(chǎn)品概述:
瞬時(shí)記憶是指?jìng)€(gè)體接觸刺激對(duì)象而產(chǎn)生感覺(jué)經(jīng)驗(yàn)后,保留短暫時(shí)間能力的一種心理品質(zhì)。這種處于未經(jīng)加工的**階段記憶模式若不予注意,存貯的信息量將很快喪失,但瞬時(shí)記憶可有助于信息的積累,為感知事物的連續(xù)性提供了可能性。
瞬時(shí)記憶實(shí)驗(yàn)儀采用部分報(bào)告法和全部報(bào)告法來(lái)驗(yàn)證被試的瞬時(shí)記憶效果。前者要求被試再現(xiàn)先前呈現(xiàn)的一部分指定對(duì)象數(shù)字字母,再由此估量全部呈現(xiàn)數(shù)量值;后者要求被試再現(xiàn)呈現(xiàn)過(guò)的全部對(duì)象,由此對(duì)正確數(shù)量回憶出保存量。用部分報(bào)告往往更能體現(xiàn)瞬時(shí)記憶能力的測(cè)量效果。
瞬時(shí)記憶實(shí)驗(yàn)儀采用部分報(bào)告法和全部報(bào)告法來(lái)驗(yàn)證被試的瞬時(shí)記憶效果。前者要求被試再現(xiàn)先前呈現(xiàn)的一部分指定對(duì)象數(shù)字字母,再由此估量全部呈現(xiàn)數(shù)量值;后者要求被試再現(xiàn)呈現(xiàn)過(guò)的全部對(duì)象,由此對(duì)正確數(shù)量回憶出保存量。用部分報(bào)告往往更能體現(xiàn)瞬時(shí)記憶能力的測(cè)量效果。
技術(shù)參數(shù):
刺激方式: 數(shù)字字母4×3數(shù)碼管 隨機(jī)顯示
刺激時(shí)間: 0.01~9.99秒
應(yīng) 答 鍵: 10個(gè)(數(shù)字或字母鍵)
重 量: 1.5KG
外形尺寸: 主機(jī)300×220×70 mm3
鍵盤(pán)125×70×30 mm3
刺激方式: 數(shù)字字母4×3數(shù)碼管 隨機(jī)顯示
刺激時(shí)間: 0.01~9.99秒
應(yīng) 答 鍵: 10個(gè)(數(shù)字或字母鍵)
重 量: 1.5KG
外形尺寸: 主機(jī)300×220×70 mm3
鍵盤(pán)125×70×30 mm3
使用說(shuō)明:
(一)測(cè)試前的準(zhǔn)備
1、將應(yīng)答鍵盤(pán)輸出線纜插入主機(jī)“鍵盤(pán)輸入”中,接通電源。
2、打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),主試根據(jù)測(cè)試類型A/B設(shè)定上、中、下三行數(shù)碼管的12位字母或數(shù)字,以及設(shè)置實(shí)驗(yàn)次數(shù)和刺激時(shí)間
注:設(shè)置的默認(rèn)值為刺激時(shí)間3秒,實(shí)驗(yàn)次數(shù)5次,測(cè)試類型為全部報(bào)告法(A)。
3、主試按“自檢”鍵,檢測(cè)儀器工作是否正常,檢測(cè)后,重新設(shè)置新參數(shù)。
4、按“開(kāi)始”鍵,開(kāi)始實(shí)驗(yàn)。
(1)部分報(bào)告法(B):上、中、下三行數(shù)碼管將隨機(jī)顯示數(shù)字或字母,被試從左至右輸入顯示“_”(下劃線)的4位內(nèi)容,相應(yīng)地按鍵四次輸入(輸入后不得修改)。
注:在部分報(bào)告法中對(duì)某一行估計(jì)的正確量乘以3即作為全部記憶的保存量。
(2)全部報(bào)告法(A):上、中、下三行數(shù)碼管全部隨機(jī)顯示,被試按照上中下的順序,從左至右按鍵十二次依次輸入全部12位的內(nèi)容(輸入后不得修改)。
5、根據(jù)設(shè)置要求的刺激時(shí)間和實(shí)驗(yàn)次數(shù)重復(fù)以上步驟。
6、實(shí)驗(yàn)結(jié)束,主試面板將顯示記憶正確位數(shù)及正確率的百分比。
注:按“自檢”鍵所有數(shù)碼管將均顯示為“8”,實(shí)驗(yàn)進(jìn)行中不能自檢。
7、如需重新測(cè)試,主試可按“開(kāi)始”鍵,按先前設(shè)置好的參數(shù)運(yùn)行;也可按“設(shè)置”鍵,重新設(shè)置參數(shù)后按“開(kāi)始”鍵進(jìn)行
(一)測(cè)試前的準(zhǔn)備
1、將應(yīng)答鍵盤(pán)輸出線纜插入主機(jī)“鍵盤(pán)輸入”中,接通電源。
2、打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),主試根據(jù)測(cè)試類型A/B設(shè)定上、中、下三行數(shù)碼管的12位字母或數(shù)字,以及設(shè)置實(shí)驗(yàn)次數(shù)和刺激時(shí)間
注:設(shè)置的默認(rèn)值為刺激時(shí)間3秒,實(shí)驗(yàn)次數(shù)5次,測(cè)試類型為全部報(bào)告法(A)。
3、主試按“自檢”鍵,檢測(cè)儀器工作是否正常,檢測(cè)后,重新設(shè)置新參數(shù)。
4、按“開(kāi)始”鍵,開(kāi)始實(shí)驗(yàn)。
(1)部分報(bào)告法(B):上、中、下三行數(shù)碼管將隨機(jī)顯示數(shù)字或字母,被試從左至右輸入顯示“_”(下劃線)的4位內(nèi)容,相應(yīng)地按鍵四次輸入(輸入后不得修改)。
注:在部分報(bào)告法中對(duì)某一行估計(jì)的正確量乘以3即作為全部記憶的保存量。
(2)全部報(bào)告法(A):上、中、下三行數(shù)碼管全部隨機(jī)顯示,被試按照上中下的順序,從左至右按鍵十二次依次輸入全部12位的內(nèi)容(輸入后不得修改)。
5、根據(jù)設(shè)置要求的刺激時(shí)間和實(shí)驗(yàn)次數(shù)重復(fù)以上步驟。
6、實(shí)驗(yàn)結(jié)束,主試面板將顯示記憶正確位數(shù)及正確率的百分比。
注:按“自檢”鍵所有數(shù)碼管將均顯示為“8”,實(shí)驗(yàn)進(jìn)行中不能自檢。
7、如需重新測(cè)試,主試可按“開(kāi)始”鍵,按先前設(shè)置好的參數(shù)運(yùn)行;也可按“設(shè)置”鍵,重新設(shè)置參數(shù)后按“開(kāi)始”鍵進(jìn)行
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