ST-20掌上型方塊電阻測試儀
ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 ST-20掌上型方塊電阻測試儀
1、采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準(zhǔn)確穩(wěn)定 2、低功耗 3、采用單個電池供電,帶電池欠壓指示 4、 儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm 5、 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜 6、探頭帶抗靜電模塊
測量范圍
基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口) 擴展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規(guī)格
探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
測量過程誤差:≤±0.8%
電源
9V疊層電池1節(jié)
粵公網(wǎng)安備 44030402001250號