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福祿克fluke絕緣電阻測(cè)試儀
鉗形表
其它鉗形表
福祿克FLUKE鉗形表
日本萬(wàn)用鉗形表
日本共立鉗形表
日本日置hioki鉗形表
Megger
Megger DLRO低電阻歐姆表
Megger梅凱絕緣電阻測(cè)試
梅凱Megger電力系統(tǒng)保護(hù)測(cè)試
Megger梅凱通用電氣測(cè)試
Megger梅凱變壓器測(cè)試
停產(chǎn)產(chǎn)品
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產(chǎn)品目錄
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涂層測(cè)厚儀
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時(shí)代涂層測(cè)厚儀
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德國(guó)EPK涂層測(cè)厚儀
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尼克斯QNix涂層測(cè)厚儀
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美國(guó)DeFelsko涂層測(cè)厚儀
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菲希爾fischer涂層測(cè)厚儀
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菲尼克斯PHYNIX涂層測(cè)厚儀
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電鍍層測(cè)厚儀
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X射線熒光光譜儀
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鐵素體含量測(cè)試儀
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非鐵金屬電導(dǎo)率儀
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號(hào)
產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
PosiTector UTG超聲波測(cè)厚儀
PosiTector UTG超聲波測(cè)厚儀,美國(guó)DeFelsko公司PosiTector UTG超聲波測(cè)厚儀可測(cè)量多種材料的厚度,包括:鋼、鐵、塑料等等,標(biāo)準(zhǔn)配置包括主機(jī)、5MHz探頭、電池、耦合劑、說(shuō)明書、校準(zhǔn)證書、儀器箱
菲希爾DUALSCOPE MP0R-FP涂鍍層測(cè)厚儀
菲希爾DUALSCOPE MP0R-FP涂鍍層測(cè)厚儀特別為厚涂層而設(shè)計(jì)。菲希爾DUALSCOPE MP0R-FP涂鍍層測(cè)厚儀基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合(磁感應(yīng)/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀
ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層厚度的測(cè)量。ISOSCOPE FMP30氧化膜測(cè)厚儀可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域
DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀
DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀,德國(guó)菲希爾DUALSCOPE FMP40涂層測(cè)厚儀使用Fischer的智慧型測(cè)量探頭ED10,F(xiàn)MP40膜厚儀會(huì)自動(dòng)檢測(cè)出基體的材料并應(yīng)用合適的測(cè)試方法:渦流法或電磁感應(yīng)法 。能自動(dòng)識(shí)別不同的探頭。
COULOSCOPE? CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測(cè)量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫(kù)侖法是一種簡(jiǎn)單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀
DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀采用了磁性測(cè)厚法,是一種超小型測(cè)量?jī)x,DELTASCOPE FMP30涂層測(cè)厚儀它能快速、無(wú)損傷、精頦地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測(cè)量。還具有打印柱狀圖,正態(tài)分布圖表,以及Cp和 Cpk指標(biāo)的功能。另外,每一個(gè)測(cè)量組都帶日期和時(shí)間顯示和存儲(chǔ)。
菲希爾DUALSCOPE MPOR涂鍍層測(cè)厚儀
菲希爾DUALSCOPE MPOR涂鍍層測(cè)厚儀,菲希爾DUALSCOPE MPOR涂鍍層測(cè)厚儀 基于自動(dòng)的基材識(shí)別功能和兩種測(cè)量法的結(jié)合(磁感應(yīng)/渦流,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標(biāo)準(zhǔn)),此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鐵/鋼上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬上的涂層進(jìn)行測(cè)量。
PERMASCOPE MP0涂鍍層測(cè)厚儀
菲希爾PERMASCOPE MP0涂鍍層測(cè)厚儀PERMASCOPE MP0涂鍍層測(cè)厚儀用于測(cè)量非鐵磁性金屬涂層,例如鉻、銅、鋅,以及測(cè)量鋼鐵上的涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層(采用磁感應(yīng)法,符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 標(biāo)準(zhǔn)) 該設(shè)備特別適用于對(duì)較薄的涂層進(jìn)行**測(cè)量。
德國(guó)菲希爾 FMP100 涂鍍層測(cè)厚儀
德國(guó)菲希爾 FMP100 涂鍍層測(cè)厚儀探頭可選用兩用型探頭,測(cè)量時(shí)可以自動(dòng)分辨磁性和非磁性底材,不需更換探頭,德國(guó)菲希爾 FMP100 涂鍍層測(cè)厚儀配備觸摸屏和 Windows? CE 操作系統(tǒng),操作快速且直觀。更大的系統(tǒng)內(nèi)存意味著您可以執(zhí)行數(shù)千個(gè)測(cè)量任務(wù)。具有各種統(tǒng)計(jì)與分析功能,可用于處理結(jié)果。
RMP30-S手持式面銅箔測(cè)厚儀
RMP30-S手持式面銅箔測(cè)厚儀,德國(guó)菲希爾 RMP30-S手持式面銅箔測(cè)厚儀用于測(cè)量線路板上銅層厚度的手持式儀器,它無(wú)損、 快速、**并且不會(huì)受到背面銅層的影響;RMP30-S手持式面銅箔測(cè)厚儀特別適用于測(cè)量多層或是較薄的板材上的銅厚,該測(cè) 量法保證了兩面相對(duì)的銅層不會(huì)相互影響測(cè)量結(jié)果。
菲尼克斯Phynix? surfix FN 涂層測(cè)厚儀
菲尼克斯Phynix? surfix FN 涂層測(cè)厚儀帶有固定探頭,尤其適合有明確測(cè)量任務(wù)的應(yīng)用。菲尼克斯Phynix? surfix FN 涂層測(cè)厚儀用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽(yáng)極氧化涂層的快速、可靠、**測(cè)量,
菲尼克斯Surfix BFN膜厚儀
菲尼克斯Surfix BFN膜厚儀,德國(guó)菲尼克斯PHYNIX生產(chǎn)的菲尼克斯Surfix BFN膜厚儀電渦流,磁感應(yīng)的測(cè)厚儀,有碳化鎢超耐磨測(cè)頭.特快反應(yīng)速度,同屏顯示統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù).可存儲(chǔ)前200測(cè)值,可測(cè)鐵基體上涂鍍層和有色金屬基體上涂層,量程1500μm.精度±1μm+1%讀數(shù).分辨率0.1μm.讀數(shù)背景光,有紅外可接PC及打印機(jī)
菲尼克斯 Surfix EX 涂層測(cè)厚儀
菲尼克斯 Surfix EX 涂層測(cè)厚儀,菲尼克斯 Surfix EX 涂層測(cè)厚儀新的特點(diǎn),彩色顯示屏,USB 接口,超大數(shù)據(jù)存儲(chǔ),Excel連接,先進(jìn)的測(cè)量?jī)x器: 彩屏, PC 連接,易操作,以及適合PHYNIX所有探頭
菲尼克斯Pocket-Surfix FN膜厚儀
德國(guó)菲尼克斯Pocket-Surfix FN膜厚儀,菲尼克斯Pocket-Surfix FN膜厚儀一體式膜厚儀,膜厚儀 膜厚計(jì),集成探頭具有幾乎無(wú)限的壽命,由于其測(cè)量端由高硬質(zhì)合金金屬。大塑料腳,定位區(qū)和V型槽使垂直定位,在水平,圓柱和曲面
菲尼克斯 Surfix Pro X專業(yè)型涂層測(cè)厚儀
菲尼克斯 Surfix Pro X專業(yè)型涂層測(cè)厚儀用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽(yáng)極氧化涂層的快速、可靠、**測(cè)量,可連接不同的探頭。它可以數(shù)據(jù)傳輸,操作方便, **度高,使其成為一種多功能測(cè)量?jī)x。我們的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量?jī)xSurfix®系列帶有固定探頭,尤其適合有明確測(cè)量任務(wù)的應(yīng)用。
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀強(qiáng)大數(shù)據(jù)處理功能.分500組存儲(chǔ)1萬(wàn)個(gè)測(cè)值,特快反應(yīng)速度,菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀可測(cè)鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層
菲尼克斯 Surfix easy 簡(jiǎn)易型膜厚儀
菲尼克斯 Surfix easy 簡(jiǎn)易型膜厚儀,德國(guó)PHYNIX公司?菲尼克斯 Surfix easy 簡(jiǎn)易型膜厚儀的所有測(cè)量探頭均由硬質(zhì)合金制成,這意味著它具有幾乎無(wú)限的使用壽命。前端塑料帽 設(shè)計(jì)有一個(gè)V型槽,因此其能夠穩(wěn)定且垂直地定位在水平面、柱面或是彎曲面上。
菲尼克斯 Surfix 涂層測(cè)厚儀
菲尼克斯 Surfix 涂層測(cè)厚儀,德國(guó)PHYNIX公司SURFIX®系列涂層測(cè)厚儀用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽(yáng)極氧化涂層的快速、可靠、**測(cè)量,菲尼克斯 Surfix 涂層測(cè)厚儀
604-141電鍍層測(cè)量探頭FGAB1.3
604-141電鍍層測(cè)量探頭FGAB1.3 帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應(yīng)探頭。若需要時(shí),可修改存儲(chǔ)器。并有抗磨損涂層。電纜長(zhǎng)度:1.5m(5 feet)
604-142氧化膜測(cè)量探頭 FTA3.3H
604-142氧化膜測(cè)量探頭 FTA3.3H 帶微處理芯片的聰明型渦流式探頭。可以在無(wú)須預(yù)先校準(zhǔn)的情況下立即測(cè)量。內(nèi)存可以無(wú)數(shù)次修改。具有彈性測(cè)量系統(tǒng)帶碳化鎢測(cè)量端。適應(yīng)于測(cè)量硬質(zhì)粗糙表面。
菲希爾PhaScope PMP10 Duplex雙層涂層厚度測(cè)量?jī)x
菲希爾PhaScope PMP10 Duplex雙層涂層厚度測(cè)量?jī)x,同時(shí)測(cè)量鋅和油漆或鋁和油漆,探頭ESG20的測(cè)量法符合DIN EN ISO 21968標(biāo)準(zhǔn)(相位敏感電渦流法); DIN EN ISO 2178(磁感應(yīng)法); DIN EN ISO 2360 (振幅敏感電渦流法) 隨儀器附送計(jì)算機(jī)端軟件FISCHER DataCenter,其擁有以下功能:傳輸保存測(cè)量值,**的統(tǒng)計(jì)性和圖形化評(píng)估,輕松生成并打印檢驗(yàn)報(bào)告
PHASCOPE PMP10高精度電鍍層測(cè)厚儀
PHASCOPE PMP10高精度電鍍層測(cè)厚儀配合ESD2.4測(cè)量頭便可以測(cè)量細(xì)小的五金零件鐵上鍍鋅的厚度,此探頭專為測(cè)試螺絲等細(xì)小工件而設(shè)計(jì)。配合測(cè)量探頭ESD20Zn測(cè)量鋅,銅,鋁等鍍層在鋼或鐵上的厚度。尤其適合于在粗糙的表面測(cè)量。采用相位感度渦流方法允許非接觸式的測(cè)量,例如對(duì)于引線的測(cè)量
PHASCOPE PMP10 銅箔測(cè)厚儀 ESD20Cu銅箔探頭
PHASCOPE PMP10 銅箔測(cè)厚儀 ESD20Cu銅箔測(cè)厚儀探頭,配合測(cè)量探頭ESD20Cu測(cè)量印刷線路板上表面銅箔的厚度。此探頭的*大特點(diǎn)是能隔著油墨測(cè)試表面銅的厚度(**于單、雙面板)。測(cè)量頻率工作在60 kHz或240 kHz上,允許根據(jù)當(dāng)前的應(yīng)用選擇*佳頻率。
HCC-18A磁阻法測(cè)厚儀
HCC-18A磁阻法測(cè)厚儀可應(yīng)用于電鍍層、油漆層、塑料層、紙張等厚度測(cè)量,也可用于船體油漆及結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量;雙量程(量程Ⅰ:0~200μm、量程Ⅱ:
HCC-24磁阻法測(cè)厚儀
HCC-24磁阻法測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。HCC-24磁阻法測(cè)厚儀一種用電池供電的便攜式測(cè)量?jī)x器,可快速無(wú)損地測(cè)量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度,如鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、鉻鍍層和油漆層等
HCC-25電渦流式測(cè)厚儀
HCC-25電渦流式測(cè)厚儀,HCC-25電渦流式測(cè)厚儀應(yīng)用電渦流原理測(cè)量,儀器的設(shè)計(jì)符合ISO2360和GB4957標(biāo)準(zhǔn);適用于非導(dǎo)磁金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的測(cè)量,
LS221膜厚儀
LS221膜厚儀,LS221膜厚儀可用來(lái)測(cè)量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的涂料、清漆、搪瓷、鉻、鍍鋅等非磁性涂層的厚度,也可用于測(cè)量銅、鋁、壓鑄鋅、黃銅等非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電涂層如涂料、陽(yáng)極氧化層或陶瓷等的厚度。多用于車漆厚度的檢測(cè)。
LS220H涂層測(cè)厚儀
LS220H涂層測(cè)厚儀,LS220H涂層測(cè)厚儀是一款專業(yè)用于檢測(cè)材料表面涂層厚度的儀器,比較適合用于商檢,生產(chǎn)廠家等地。儀器采用的是磁性測(cè)量法和渦流測(cè)量法,可檢測(cè)鐵磁性金屬基體上的非磁性涂層的厚度和非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電涂層厚度,并具有自動(dòng)識(shí)別功能,儀器可自動(dòng)顯示并測(cè)量基體。
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