高加速應(yīng)力測試(HAST)結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時(shí)間,以測量元件的可靠性,無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速,在較短的時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封,材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測試(BHAST)利用與HAST測試相同的變量(高壓,高溫和時(shí)間),但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標(biāo)是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕,從而加快測試周期。
HAST加速壓力測試與THB測試類似,因?yàn)楣收鲜怯上嗤臋C(jī)制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生,并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠,因此,數(shù)千小時(shí)的THB測試無法在短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測試的弱點(diǎn)。
型的HAST測試條件包括110或130°C的溫度,85%RH的濕度和96小時(shí)的測試運(yùn)行時(shí)間。一旦高度加速的壓力測試完成,測試的樣品將用防潮袋返回給客戶,并帶有測試時(shí)間標(biāo)簽。HAST測試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110,“高加速溫度和濕度壓力測試(HAST)”。
JESD22-A118 (無偏)
JESD22-A110 (偏置)
IEC 60068-2-66
l HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差(THB)測試
l HAST使用110至130 ?C的測試溫度,與THB測試相比,將測試時(shí)間縮短至96小時(shí)
l 干燥)高溫 130C, 相對濕度 85%, 壓力 33.3 psia
l (濕)高溫110C,相對濕度35%,壓力17.7標(biāo)準(zhǔn)
l 電子學(xué)
l 半導(dǎo)體
l 太陽能
l 藥品
l 空間應(yīng)用
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