福祿克FLUKE TLK287電子**測(cè)試線套件 用于當(dāng)今電子測(cè)試和設(shè)計(jì)的**測(cè)試線套件 TLK287電子**測(cè)試線套件主要特性包括： 精密電子探針，帶多個(gè)彈簧尖頭，確保與 SMD 測(cè)試點(diǎn)保持更大的接觸面積 迷你型鉤爪和導(dǎo)線，確保更佳的 SMD 測(cè)試 迷你型鱷魚夾、鉤爪和探針，幾乎可以滿足所有電子元件需要 Fluke-TLK287 Includes: Precision electronic probes with multiple spring-loaded sharp tips to maximize contact with SMD test points Micro-grabbers and leads to enable fine SMD test Mini-alligator clips, grabbers, and probes for virtually every electronics need