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陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板平面啞光漫反射
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陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板平面啞光漫反射
產(chǎn)品資料
陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板平面啞光漫反射
如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱:
陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板平面啞光漫反射
產(chǎn)品型號(hào):
AUBAT-MATT
產(chǎn)品展商:
AUBAT
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平面啞光漫反射平面在光學(xué)計(jì)量領(lǐng)域中的應(yīng)用非常廣泛,主要用于校準(zhǔn)和驗(yàn)證光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、檢測(cè)光學(xué)元件的平面度以及進(jìn)行干涉測(cè)量等。奧本精密國(guó)高精度計(jì)量用標(biāo)準(zhǔn)器
產(chǎn)品描述
名稱:
陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板
品牌:AUBAT
廠家:奧本精密
精度:定制
尺寸參數(shù):定制
定制標(biāo)準(zhǔn)平板:
陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平板、平面
在光學(xué)計(jì)量領(lǐng)域中的應(yīng)用非常廣泛,主要用于校準(zhǔn)和驗(yàn)證光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)、檢測(cè)光學(xué)元件的平面度以及進(jìn)行干涉測(cè)量等。
校準(zhǔn)與驗(yàn)證:陶瓷標(biāo)準(zhǔn)平面在結(jié)構(gòu)光計(jì)量系統(tǒng)中被用作校準(zhǔn)和驗(yàn)證工具。通過將其放置在測(cè)量系統(tǒng)中,可以確保測(cè)量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
啞光陶瓷平面
作為標(biāo)準(zhǔn)參考面,用于與被測(cè)物體表面進(jìn)行比較,從而評(píng)估被測(cè)表面的形狀和精度。
平面度檢測(cè):標(biāo)準(zhǔn)平面用于檢定量塊的研合性和平面度,以及儀器量具的測(cè)量面工作面的平面度。此外,它還用于檢定高精度的平面零件,如平面光學(xué)零件、**平臺(tái)、平板和導(dǎo)軌。
干涉測(cè)量:光學(xué)平面常用于干涉測(cè)量中,作為參考表面來檢查光學(xué)元件(如鏡子、濾鏡、棱鏡和窗戶)的平面度。當(dāng)光學(xué)平面與測(cè)試表面接觸并用單色光照射時(shí),會(huì)形成明暗條紋的干涉圖案,通過觀察這些條紋可以判斷被測(cè)表面的平面度。
三維測(cè)量:在基于結(jié)構(gòu)光掃描的光學(xué)三維測(cè)量系統(tǒng)中,標(biāo)準(zhǔn)平板平面被安裝在測(cè)量空間的不同位置,以計(jì)算??個(gè)測(cè)量方向的*佳擬合平面,并通過測(cè)量點(diǎn)云數(shù)據(jù)來評(píng)估平面形狀探測(cè)誤差。
光學(xué)元件制造與檢測(cè):在光學(xué)設(shè)備制造過程中,標(biāo)準(zhǔn)平板平面用于校準(zhǔn)和檢驗(yàn)其他光學(xué)元件的平面度,確保這些元件在成像、干涉測(cè)量和激光系統(tǒng)等應(yīng)用中的光路完整性。
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