9J(JBQ)
9JJBQ
光切法顯微鏡9J(JBQ)
9J(JBQ) 光切法顯微鏡
本儀器是以光切法測量另件加工表面的微觀不平度。其能判斷別國家標(biāo)準(zhǔn)GB 1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。
對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進(jìn)行測量。
光切法特點是在不破壞表面的狀況下進(jìn)行的。是一種間接測量方法。即要經(jīng)過計算后才能確定紋痕的不平度。
測量范圍不平度平均高度值
﹥0.8~1.6微米
>1.6~6.3微米
>6.3~20微米
>20~80微米
表面光潔度級別
9
8~7
6~5
4~3
所需物鏡
60倍N.A.0.55
30倍N.A.0.40
14倍N.A.0.20
7倍N.A.0.12
總放大倍數(shù)
510×
260×
120×
60×
物鏡組件工作距離
0.04mm
0.2mm
2.5mm
9.5mm
視場
0.3mm
0.6mm
1.3mm
攝影裝置放大倍數(shù)
約6×
測量不平度范圍
(0.8~80)微米
不平度寬度
用測微目鏡
0.7微米~2.5mm
用座標(biāo)工作臺
(0.01~13)mm
儀器重量
約23kg
外形尺寸
約180×290×470mm
滬公網(wǎng)安備 31011402002798號