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產(chǎn)品詳情

LZ-200J雙型膜厚計,日本凱特KETT牌膜厚計

  • 產(chǎn)品名稱:LZ-200J雙型膜厚計,日本凱特KETT牌膜厚計
  • 產(chǎn)品型號:LZ-200J
  • 產(chǎn)品廠商:KETT凱特
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹
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LZ-200J雙型膜厚計,日本凱特KETT牌膜厚計

的詳細介紹

LZ-200J雙型膜厚計,日本凱特KETT牌膜厚計

電磁式と渦電流式の両機能を備え、しかもプリン タを內(nèi)蔵したポータブルタイプの膜厚計です。 磁性金屬上および非磁性金屬上のさまざまな被 膜厚測定にすばやく対応します。ボタンひとつ で平均値?標準偏差?*大値?*小値が求められる 統(tǒng)計計算機能、キャリブレーション?メモリ機能、 リミット設(shè)定機能などを裝備しています。

●仕様 LZ-200J
測定方式 電磁誘導(dǎo)式/渦電流式兼用
測定対象 磁性金屬上の非磁性被膜および非磁性金屬上の絶縁被膜
測定範囲 電磁式:0~1500μmまたは60.00mils
渦電流式:0~800μmまたは32.00mils
測定精度 電磁式:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2%
渦電流式:50μm未満:±1μm、50μm以上:±2%
分解能 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm
適合規(guī)格 電磁誘導(dǎo)式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
統(tǒng)計機能 測定回數(shù)?平均値?標準偏差?*大値?*小値?ブロック番號
プローブ 一點接觸定圧式(LEP-J、LHP-J)
表示方法 デジタル(LCD、表示*小桁0.1μm)
外部出力 RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps)
電源 AC100V(50/60Hz)または
電池1.5V(単3アルカリ) 本體部×6、プリンタ部×4
寸法?質(zhì)量 120(W)×250(D)×55(H)mm、1.0kg
付屬品 標準板、鉄素地、アルミ素地、標準板ケース、電池1.5V(単3アルカリ)、ACアダプタ、 プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
オプション L字型プローブ(LEP-21L)、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」

(McWAVE Lite、McWAVE Standard、McWAVE Professional、MultiPropはCEC社の商標です。)
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