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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

甘沃實(shí)業(yè)（上海）有限公司
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產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	PS50型三維表面形貌儀 PS50型三維表面形貌儀	PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測(cè)量設(shè)備，采用國(guó)際**的白光共聚焦技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高，速度快，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器性價(jià)比高，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。
	亞微米/納米激光粒度儀 BI-90Plus	90Plus亞微米/納米激光粒度儀基于動(dòng)態(tài)光散射原理，是一種快速、便捷的納米、亞微米粒度分析測(cè)試儀器。動(dòng)態(tài)光散射原理：由于顆粒在懸浮液中的布朗運(yùn)動(dòng)，使得光強(qiáng)隨時(shí)間產(chǎn)生脈動(dòng)。采用數(shù)字相關(guān)器技術(shù)處理脈沖信號(hào)，可以得到顆粒運(yùn)動(dòng)的擴(kuò)散信息后，進(jìn)而利用Stokes－Einstein方程計(jì)算得出顆粒粒徑及其分布。
	納米激光粒度儀Zeta電位分析儀 Omni多角度納米激光粒度儀及高靈敏度Zeta電位分析儀	Omni多角度納米激光粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術(shù)，擁有15°、90°與173°三個(gè)散射角度，硬件PALS技術(shù)解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精準(zhǔn)測(cè)量，是功能強(qiáng)大的納米激光粒度儀與Zeta電位分析儀。
	表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX PhoeniX	表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制PhoeniX可以檢測(cè)產(chǎn)品的表面，控制主要的缺陷，例如：劃痕、毛邊、缺料、小孔、復(fù)膜、真圓度、同心度等。
	表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX MatliX	表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備。表面缺陷檢測(cè)與控制MatliX可以檢測(cè)產(chǎn)品的表面，控制主要的缺陷，例如：劃痕、毛邊、缺料、小孔、復(fù)膜、真圓度、同心度等。
	全自動(dòng)折光儀 JH300/JH500	佳航JH300／JH500 全自動(dòng)折光儀配備高性能線陣CCD感光部件，通過高速、高精度的信號(hào)采集和分析處理技術(shù)，配有半導(dǎo)體帕爾貼超級(jí)溫度控制系統(tǒng)。該系列全自動(dòng)折光儀能高效、高**測(cè)量透明、半透明、深色、粘稠狀等各類液體的折射率(nD)和糖溶液的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（錘度Brix）。
	折光儀 IR100系列	儀邁Insmark的IR100系列智能折光儀，精度達(dá)到高水平0.00001，友好的中文彩屏界面及中英文輸入功能，符合GLP、國(guó)際糖度標(biāo)準(zhǔn)，提供新鮮的標(biāo)準(zhǔn)液，確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。IR100系列智能折光儀具有測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)監(jiān)控，補(bǔ)償和報(bào)警功能。
	數(shù)字旋光儀 IP-digi600系列	儀邁Insmark的IP-digi600系列數(shù)字旋光儀，分辨率雙精度可選；GLP模式，數(shù)據(jù)溯源，電子簽名；IP-digi600系列數(shù)字旋光儀可連接任意打印機(jī)，安裝網(wǎng)絡(luò)打印機(jī)；配制Glan Thompson棱鏡，測(cè)量更穩(wěn)定、更精準(zhǔn)；用戶標(biāo)準(zhǔn)樣品比對(duì)測(cè)量；在線咨詢，服務(wù)功能；在線編輯，打印測(cè)試報(bào)告；用戶可編輯、命名并存儲(chǔ)多種常用樣品的測(cè)量程序。
	數(shù)字旋光儀 IP-digi300系列	儀邁Insmark IP-digi300系列數(shù)字旋光儀，技術(shù)指標(biāo)與模擬旋光儀相比很多提升。8″彩色觸摸屏，友好的操作界面。提供外部石英管校準(zhǔn)配件Super A-Box。該款數(shù)字旋光儀符合多種測(cè)量規(guī)范及藥典，數(shù)據(jù)溯源?？捎喼破渌ㄩL(zhǎng)。
	X-射線結(jié)構(gòu)分析 SAXSpace納米結(jié)構(gòu)分析儀	SAXSpace納米結(jié)構(gòu)分析儀(X-射線結(jié)構(gòu)分析）使用小角和廣角X-射線散射(SAXS/WAXS) 方法研究納米結(jié)構(gòu)，研究對(duì)象包括蛋白質(zhì)、食品、藥品、聚合物和納米復(fù)合材料、納米粒子和催化劑等。
	簡(jiǎn)易型全自動(dòng)折光儀 Abbemat 200	Abbemat 200簡(jiǎn)易型全自動(dòng)折光儀，該款簡(jiǎn)易型全自動(dòng)折光儀不僅具備了所有的基本功能，簡(jiǎn)潔直觀，開箱即用，而且?guī)缀鹾w折光儀所有的應(yīng)用行業(yè)。無需專用的工業(yè)解決方案。
	高性能和高.端模塊化系列折光儀 Abbemat 300/350/500/550折光儀	Abbemat 300/500 高性能和高.端模塊化系列折光儀日常分析和質(zhì)量控制的解決方案，而Abbemat 350/550 高性能和高.端模塊化系列折光儀則主要是為研發(fā)和苛刻的質(zhì)量控制應(yīng)用而設(shè)計(jì)。
	三維尺寸及表面缺陷檢測(cè)儀三維尺寸及表面缺陷檢測(cè)儀	三維尺寸及表面缺陷檢測(cè)儀是一款用于圓形零件和異形零件的尺寸和表面控制的視覺檢測(cè)設(shè)備?？梢詸z測(cè)產(chǎn)品的表面，控制主要的缺陷，例如：劃痕、毛邊、缺料、小孔、復(fù)膜、真圓度、同心度等。
	高精度智能旋光儀 MCP 100/200/300/500旋光儀	MCP系列高精度智能旋光儀是一款運(yùn)用于研究和工業(yè)領(lǐng)域的智能化旋光儀。該儀器可通過準(zhǔn)確測(cè)量液體樣品的旋光度，利用公式來表征光學(xué)活性物質(zhì)的濃度或比旋度,是真正意義上的高精度智能旋光儀。
	基準(zhǔn)級(jí)光澤度儀遠(yuǎn)方HAG-2000	HAG-2000是實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)級(jí)光澤度絕.對(duì)和相對(duì)測(cè)量的科學(xué)級(jí)儀器，主要用于光澤度標(biāo)準(zhǔn)板檢定，光澤標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)量值傳遞?？删珳?zhǔn)測(cè)量20°、45°、60°、75°、85°的光澤度值，以及絕.對(duì)鏡面反射率分布曲線。絕.對(duì)測(cè)量方式避免了相對(duì)測(cè)量中因標(biāo)準(zhǔn)板和被測(cè)板鏡面反射率空間分布差異所導(dǎo)致的測(cè)量誤差，測(cè)量更加可靠，系統(tǒng)角度精度高、測(cè)量重復(fù)性好，測(cè)量精度高。
	雙向反射/透射空間分布測(cè)量系統(tǒng) 遠(yuǎn)方BBMS-2000	BBMS-2000雙向反射/透射空間分布測(cè)量系統(tǒng)可全方位分析測(cè)量材料表面的反射、透射特性，可測(cè)參數(shù)包括材料的雙向透射分布（BTDF）、雙向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、總反射（TIR）、總散射（TIS）等，可廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、紙張、紡織品、玻璃、涂面、光學(xué)膜材料等諸多材料的表面光學(xué)特性的定量分析，其BRDF/BTDF數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出至光學(xué)設(shè)計(jì)軟件中，用于光學(xué)系統(tǒng)模擬設(shè)計(jì)。
	紫外可見近紅外透射反射測(cè)試遠(yuǎn)方TR-5000測(cè)試系統(tǒng)	測(cè)量各類薄膜、玻璃以及鏡片等的可見光透射比、紫外線透射比、太陽(yáng)光透射比、可見光反射比，及材料的光譜透射率/反射率曲線，并對(duì)材料的顏色特性進(jìn)行分析，實(shí)現(xiàn)280nm-2500nm極寬的測(cè)量范圍，滿足GAT744-2013 標(biāo)準(zhǔn)要求。
	遠(yuǎn)方霧度計(jì) 遠(yuǎn)方HAM-200	主要包括：1）遠(yuǎn)方HAM-200霧度計(jì)硬件 2）遠(yuǎn)方霧度分析系統(tǒng)軟件V2.00_HazeSuite 采用高精度光度探測(cè)器，實(shí)現(xiàn)380-780nm波段的精準(zhǔn)光度匹配。系統(tǒng)主要用于材料透光率，霧度測(cè)試，一體化設(shè)計(jì)，夾持樣品的空間大，滿足不同尺寸樣品的測(cè)試需求，依據(jù)ASTM D1003，GB/T 2410，JISK7105-81，ISO14782、JIS K7136、JC/T2130-2013等標(biāo)準(zhǔn)的要求。
	遠(yuǎn)方標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱遠(yuǎn)方VCA-3300標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱	VCA-3300標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱采用遠(yuǎn)方技術(shù)和PHILIPS、GE、OSRAM、SYLVANIA等國(guó)際品牌光源，配合具有漫反射特性的遠(yuǎn)方公司專用詩(shī)貝倫涂層的勻光裝置，精準(zhǔn)匹配和準(zhǔn)確模擬多標(biāo)準(zhǔn)要求的光色環(huán)境，滿足ASTM、CIE、ISO、GB和JJG等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)，為提高顏色比對(duì)的一致性和可靠性提供了技術(shù)保證。
	遠(yuǎn)方標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱遠(yuǎn)方VCA-1100標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱	VCA-1100標(biāo)準(zhǔn)光源對(duì)色燈箱采用PHILIPS、GE、OSRAM、SYLVANIA等國(guó)際品牌光源，配合具有漫反射特性的遠(yuǎn)方公司專用詩(shī)貝倫涂層的勻光裝置，精準(zhǔn)匹配和準(zhǔn)確模擬多標(biāo)準(zhǔn)要求的光色性能，滿足ASTM、CIE、ISO、GB和JJG等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)，為顏色比對(duì)的一致性和可靠性提供技術(shù)保證。