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CMI243 鍍層和 X 射線熒光測厚儀的比較
CMI243 鍍層測厚儀和 X 射線熒光測厚儀的比較如下:
測量原理
:
CMI243 鍍層測厚儀
:采用基于相位的電渦流技術(shù)。一般的測試方法,如普通磁感應和渦流方式,因探頭 “升離效應” 導致的底材效應,以及測試件形狀和結(jié)構(gòu)導致的干擾,都無法準確測量金屬性鍍層厚度。而 CMI243 將該技術(shù)應用后,可達到 ±3% 以內(nèi)(對比標準片)的準確度和 0.3% 以內(nèi)的**度,能將底材效應*小化,使測量準確且不受零件幾何形狀影響,通常也不需要在鐵質(zhì)底材上校準
21318
。
X 射線熒光測厚儀
:通過測量 X 射線熒光的強度來確定鍍層厚度。X 射線激發(fā)被測物質(zhì),使其原子內(nèi)層電子發(fā)生躍遷,當外層電子回遷時會釋放出特定能量的光子,即 X 射線熒光,不同元素的熒光能量和強度不同,據(jù)此可分析鍍層成分和厚度
317
。
測量精度
:
CMI243 鍍層測厚儀
:準確度相對標準片可達 ±3% 以內(nèi),**度在 0.3% 以內(nèi),分辨率為 0.1μm
21318
。
X 射線熒光測厚儀
:分析精度高,對多數(shù)元素的測量精度通常在幾個百分點以內(nèi),部分元素可達到亞微米級的測量精度,但具體精度也受儀器性能、校準情況、樣品特性等因素影響
20
。
測量范圍
:
CMI243 鍍層測厚儀
:如鐵上鍍層中,鋅的測量范圍為 0 - 38μm,銅的測量范圍為 0 - 10μm 等,主要適用于測量磁性金屬上的一些常見金屬鍍層厚度
218
。
X 射線熒光測厚儀
:可測量多種元素的鍍層厚度,測量范???通常較寬,能涵蓋從幾納米到幾百微米甚至更厚的鍍層,并且能同時測定鍍層成分以及貴金屬含量
17
。
適用樣品
:
CMI243 鍍層測厚儀
:適用于測量磁性金屬底材上的金屬鍍層,對于小的、幾何形狀特殊或表面粗糙的樣品也能較好測量,如緊固件、螺絲、汽車部件、齒輪、管件等表面電鍍層
18
。
X 射線熒光測厚儀
:可用于各種形狀和材質(zhì)的樣品,包括固體、粉末、液體等狀態(tài)的樣品,且與樣品的化學結(jié)合狀態(tài)基本無關,但對氣體密封在容器內(nèi)的情況也可分析
20
。
操作便捷性
:
CMI243 鍍層測厚儀
:一般為手持式儀器,操作相對簡便,易于用戶控制,單探頭可測量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬鍍層,免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的復雜需求
21318
。
X 射線熒光測厚儀
:操作可能相對復雜一些,需要進行一定的培訓以熟悉儀器操作和數(shù)據(jù)分析方法,但現(xiàn)在很多儀器也配備了自動化操作和數(shù)據(jù)分析軟件,以提高操作便捷性。
價格
:
CMI243 鍍層測厚儀
:價格通常相對較為適中,一般在數(shù)千元到數(shù)萬元不等,具體價格因品牌、配置、功能等因素而異
221
。
X 射線熒光測厚儀
:價格范圍較廣,低則數(shù)萬元,高則數(shù)十萬元甚至更高,**型號或具備特殊功能的儀器價格較高,且不同品牌和型號之間價格差異較大
22
。
綜上所述,CMI243 鍍層測厚儀在測量磁性金屬鍍層、小型或特殊形狀樣品方面有優(yōu)勢,操作簡便,價格適中;X 射線熒光測厚儀測量精度高、范圍寬,適用于多種樣品狀態(tài)和元素分析,但操作可能較復雜,價格較高。在實際應用中,需根據(jù)具體測量需求、樣品特點、預算等因素綜合選擇合適的測厚儀。
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