環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介

一、主要國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)　　《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》是國(guó)際電工委員會(huì)（IEC)第50技術(shù)委員會(huì)（TC 50）制定的一整套環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)，（即IEC 68號(hào)出版物）?！　∫?yàn)榇罅康碾姽ぁ㈦娮赢a(chǎn)品在國(guó)內(nèi)和國(guó)際上等通，使得用戶(hù)和生產(chǎn)者雙方都關(guān)心產(chǎn)品的貯存、運(yùn)輸和使用中的性能、可靠性和**性，要求制定共同的標(biāo)準(zhǔn)，以保證產(chǎn)品能滿(mǎn)意的工作。《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》就是為了滿(mǎn)足需要，從六十年代到八十年代陸續(xù)完成的?！　∵@套環(huán)境試驗(yàn)系列標(biāo)準(zhǔn)吸收了各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化的經(jīng)驗(yàn)，集中了各國(guó)有關(guān)專(zhuān)家的智慧，因此具有體系完整、結(jié)構(gòu)嚴(yán)謹(jǐn)、便于利用、內(nèi)容完善等優(yōu)點(diǎn)，并具有科學(xué)性和先進(jìn)性，已在世界各國(guó)十分廣泛的采用。不僅電工、電子產(chǎn)品，其它行業(yè)產(chǎn)品也在采用。

二、美國(guó)**標(biāo)準(zhǔn)（MIL）　　其基本標(biāo)準(zhǔn)為MIL－STD－810C《空間和陸用環(huán)境試驗(yàn)方法》和MIC－STD－202F《電子、電氣零件試驗(yàn)方法》　　美軍標(biāo)和IEC標(biāo)準(zhǔn)一樣已廣泛被國(guó)際采用?！　∥覈?guó)八十年代由有關(guān)部門(mén)組織制定了GB 2421－2424《電工、電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》，GJB 150《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法》，GJB 360《電子元器件試驗(yàn)方法》，分別等效于IEC 68號(hào)出版物，MIL－STD－810C和MIL－STD－202F。到九十年代，為了提高產(chǎn)品在國(guó)際市場(chǎng)上競(jìng)爭(zhēng)能力，國(guó)家有關(guān)部門(mén)明確規(guī)定：民用產(chǎn)品和**產(chǎn)品的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)分別等同采用IEC和MIL標(biāo)準(zhǔn)。

三、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　以上介紹的是環(huán)境試驗(yàn)的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)，還有一類(lèi)是環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)條件。　　國(guó)外知名的產(chǎn)品技術(shù)條件有：　　BS 3898－1965《試驗(yàn)室濕熱箱技術(shù)條件》為英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)，并為其它國(guó)家廣泛采用?！　?/font>ASTME－145－1968《重力對(duì)流和強(qiáng)制通風(fēng)老化箱技術(shù)條件》美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)。　　ASTMD 2436－68《電氣絕緣用強(qiáng)制對(duì)流實(shí)驗(yàn)室烘箱標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)條件》美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)。　　IEC 216號(hào)出版物《測(cè)定電氣絕緣材料耐熱性試驗(yàn)導(dǎo)則》第四部分，老化烘箱?！　∥覈?guó)有關(guān)部門(mén)也先后制訂了各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備技術(shù)條件，如： GB 10586《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB 10592《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。

四、環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢定方法　　我國(guó)有關(guān)部門(mén)制訂了GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》、HB 6783《**機(jī)載設(shè)備氣候環(huán)境試驗(yàn)箱（室）檢定方法》，HB 7122《民用飛機(jī)機(jī)載設(shè)備氣候試驗(yàn)箱（室）檢定方法》，從而使環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢定和認(rèn)證有章可循，使設(shè)備質(zhì)量得到保證。

五、在試驗(yàn)方法及技術(shù)條件中的溫度性能指標(biāo)  1、在試驗(yàn)方法中主要指標(biāo)是容差（允許誤差），有些標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)也對(duì)溫度變化（溫度波動(dòng)度）提出要求。 　　“容差”在IEC68－2－3，2．1的注中陳述：“溫度±2℃的容差是由于考慮到測(cè)量的一概誤差，緩慢的溫度變化和工作空間的溫度波動(dòng)度等”?！　≡?/font>IEC 216號(hào)出版物第四篇老化烘箱中，定義“溫度偏差”是“由于溫度波動(dòng)度和溫度梯度組合而成的溫度誤差”?！　≡?/font>MIL－STD－810的4．4．1試驗(yàn)條件允差中規(guī)定“試樣應(yīng)完全被空氣包圍（必要的支承點(diǎn)除外），試驗(yàn)區(qū)測(cè)量系統(tǒng)的溫度和包圍試件各處溫度梯度(靠近試樣處測(cè)得）應(yīng)分別在試驗(yàn)溫度±2℃以?xún)?nèi)和不超過(guò)每米1℃或總的大值為2．2℃（試件不工作)”?！　≡?/font>MIL－STD－202F，2．2．1及MIL－STD－883C，4．5．8中，對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱允許的溫度變化：　?。?/font>1） 工作區(qū)內(nèi)的溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一參考點(diǎn)和的溫度變化保持在±2℃ 以?xún)?nèi)（即任一點(diǎn)的溫度波動(dòng)度）?！　。?/font>2） 工作區(qū)內(nèi)的空間溫度變化：工作區(qū)內(nèi)任一點(diǎn)的溫度，在給定時(shí)間內(nèi)偏離基準(zhǔn)點(diǎn)不超過(guò)±3℃（即為容差）　　在IEC 68號(hào)出版物及GB 2423中，性能指標(biāo)規(guī)定為“容差”，對(duì)容差大小，規(guī)定為高溫試驗(yàn)箱±2℃，低溫試驗(yàn)箱±3℃。2、在產(chǎn)品技術(shù)條件中的溫度性能指標(biāo)　?。?/font>1）國(guó)外產(chǎn)品技術(shù)條件　　ASTM，D2436規(guī)定有溫差和溫度波動(dòng)度，溫差的測(cè)試方法是：布置9只熱電偶在箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后開(kāi)始測(cè)試，每5分鐘測(cè)一次，共測(cè)5次得到45個(gè)數(shù)據(jù)，計(jì)算45個(gè)數(shù)據(jù)的平均值作為箱溫，從45個(gè)數(shù)中選取兩個(gè)大值和兩個(gè)小值各自減去箱溫，然后從4個(gè)差值中選出兩個(gè)大值并求其平均值，此值就是溫差?！　?/font>IEC 216號(hào)出版物第四部分老化烘箱中，同樣規(guī)定有溫差和波動(dòng)度指標(biāo)，溫差的測(cè)試方法與ASTM．D2436同，而在數(shù)據(jù)處理上則是從45個(gè)數(shù)據(jù)中找出大和小溫度值，其差值就是溫差。　　BS 3898中，規(guī)定溫度指標(biāo)為溫度均勻度與溫度波動(dòng)度，其溫度均勻度的測(cè)試方法為：當(dāng)箱內(nèi)溫度穩(wěn)定后，用布置在箱內(nèi)的熱電偶連續(xù)測(cè)試兩小時(shí)，分別計(jì)算每一測(cè)試點(diǎn)與中心點(diǎn)的溫差平均值，其中大者即為溫度均勻度，并加上正負(fù)號(hào)表示。　　在國(guó)外公司的產(chǎn)品樣本中， 溫度指標(biāo)都只有兩個(gè)， 即溫度波動(dòng)度（Tem. Constancy）和溫度均勻度（Tem. Unifortmty），或者是溫度波動(dòng)度和溫度誤差(Tem . Variation）沒(méi)有哪個(gè)國(guó)外廠(chǎng)家的產(chǎn)品樣本上同時(shí)出現(xiàn)溫度波動(dòng)度、溫度均勻度和溫度誤差三個(gè)指標(biāo)的。　?。?/font>2）國(guó)內(nèi)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品技術(shù)條件　　在我國(guó)的產(chǎn)品技術(shù)條件——低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、濕熱試驗(yàn)箱等產(chǎn)品技 術(shù)條件中都規(guī)定有溫度波動(dòng)度、溫度均勻度和溫度誤差三個(gè)指標(biāo)。溫度波動(dòng)度為箱內(nèi)任一點(diǎn)溫度的時(shí)間誤差，溫度誤差為箱內(nèi)各點(diǎn)溫度與標(biāo)稱(chēng)溫度的誤差值，即為空間誤差。各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)溫度波動(dòng)度與溫度誤差意義上的理解和測(cè)試方法基本相同，但我國(guó)技術(shù)條件中對(duì)溫度均勻度的測(cè)試和數(shù)據(jù)處理與國(guó)外有所區(qū)別，我國(guó)規(guī)定利用30分鐘內(nèi)測(cè)得每個(gè)測(cè)試點(diǎn)15次數(shù)據(jù)，分別求出每次數(shù)據(jù)中高與低溫度之差，然后算出15次差值的平均值即為均勻度，顯然由于未與標(biāo)稱(chēng)溫度或中心點(diǎn)溫度進(jìn)行比較，因此溫度均勻度指標(biāo)沒(méi)有正負(fù)號(hào)?！　∮捎谟幸陨霞夹g(shù)條件的規(guī)定，所以國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠(chǎng)在產(chǎn)品樣本和說(shuō)明書(shū)中用了三個(gè)溫度性能指標(biāo)?！　‖F(xiàn)在國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備質(zhì)量監(jiān)督中心，在按照GB 5170《電工、電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》對(duì)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備認(rèn)證驗(yàn)收時(shí)也只測(cè)溫度誤差而不測(cè)溫度均勻度?！　∥?、國(guó)內(nèi)外環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備溫度性能指標(biāo)測(cè)試的一些情況1、工作空間：IEC總則中是這樣定義的：“工作空間是可以維持規(guī)定條件在所規(guī)定的公差范圍內(nèi)的試驗(yàn)箱的那部分”國(guó)外廠(chǎng)家如日本公司規(guī)定工作空間在距箱壁1/ 6邊長(zhǎng)以外的區(qū)域除外，也就是說(shuō)滿(mǎn)足技術(shù)指標(biāo)的空間只有箱子空間的30％。我國(guó)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定距箱壁1/10邊長(zhǎng)的區(qū)域除外，工作空間為箱子空間的51％?？梢?jiàn)我國(guó)設(shè)備工作空間要大得多，可試驗(yàn)更多的產(chǎn)品。

友情鏈接:   

http://www.cnnpic.com/ http://www.cnyawei.com/ http://www.cnbzyp.com/
          
http://www.cnxjrd.com/    http://www.cnyujin.com/ http://www.ly1718.com/

http://www.cn-esun.com/