冰晶石的分析方法

（ 中華人民共和國有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)）

本部分規(guī)定了冰晶石中氟、鋁、鈉、硅、鐵、硫、磷、鈣含量（以F、Al、Na、SiO2、Fe2O3、SO42-、P2O5、CaO表示）的測定方法。

測定范圍見下表：

2 方法原理

試樣用無水四硼酸鋰和偏硼酸鋰混合熔劑熔融，加少量溴化鋰（或碘化銨）作脫模劑，在1000℃下熔融，制成玻璃樣片，用X射線熒光光譜儀進行測量。用理論a系數(shù)或基本參數(shù)法校正元素間的吸收 - 增強效應(yīng)。

3  試劑

3.1 無水四硼酸鋰和偏硼酸鋰混合熔劑[Li2B4O7（67%）+ LiBO2（33%），質(zhì)量比]：在700℃下灼燒2h。

3.2 脫膜劑：溴化鋰飽和溶液或碘化銨溶液（300g/L）。

4  儀器設(shè)備

4.1 鉑 - 金合金坩堝（95%Pt + 5%Au）。

4.2 鉑 - 金合金鑄模（95%Pt + 5%Au），鑄模材料底厚度約1mm，使其不易變形。

注：熔樣器皿和鑄?？珊隙橐?。若試樣在坩堝中熔融后直接成型，則要求坩堝底面內(nèi)壁平整光滑。而且要求規(guī)格：上端內(nèi)徑45mm，下端內(nèi)徑33mm，高25mm。

4.3 熔樣機：電阻爐或高頻電感爐熔樣機，也可用其它類型熔樣機，要求溫度不低于 1100 ℃，且可自動控制溫度。

4.4 波長色散X射線熒光光譜儀：端窗銠靶x射線管。

5  試樣

試樣制備：按照YS/T273.13-2006制備干燥試樣。

6  步驟

YS/T273.14 - 200X

6.1 測定次數(shù)

    分析時應(yīng)稱取三份試樣，進行平行測定，取其平均值。

6.2 試料

按照試樣和熔劑的質(zhì)量比為1.5∶10準(zhǔn)確稱量試樣和熔劑。

6.3 校正試驗

隨同試樣分析同類型的標(biāo)準(zhǔn)樣品。

6.4 試樣片的制備

6.4.1 混合：稱取熔劑(3.1)于瓷坩堝中，轉(zhuǎn)入鉑 - 金坩堝（4.1）中一部分，稱取試樣于鉑 - 金坩堝中，與熔劑混合均勻，把剩余的熔劑轉(zhuǎn)入鉑 - 金坩堝中并覆蓋在上層，加入1滴脫膜劑。

6.4.2 熔融：放入熔樣機（4.3）上在1000℃下熔融10min，熔融過程要轉(zhuǎn)動坩堝，使粘在坩堝壁上的小熔珠和樣品進入熔融體中。每隔一定時間，熔樣機（4.3）自動搖動坩堝，將氣泡趕盡，并使熔融物混勻。

6.4.3 澆鑄：在鑄模中澆鑄成型。將坩堝內(nèi)熔融物傾入已加熱至800℃以上的鑄模中。將鑄模移離火焰，冷卻。已成型的玻璃圓片與鑄模剝離。

6.4.4 樣片的保存：取出樣片，在非測量面貼上標(biāo)簽，放于干燥器內(nèi)保存，防止吸潮和污染。測量時，只能拿樣片的邊緣，以避免X射線測量面的沾污。

6.5 校正

6.5.1背景校正：對于常量元素可選擇測量一個或兩個背景。

6.5.2 儀器漂移校正：通過監(jiān)控樣測量校正儀器漂移。

6.5.3 校準(zhǔn)曲線的繪制

6.5.3.1 標(biāo)準(zhǔn)樣片的制備：選擇冰晶石標(biāo)準(zhǔn)樣品作為校準(zhǔn)樣品繪制校準(zhǔn)曲線，每個元素都應(yīng)有一個具有足夠的含量范圍又有一定梯度的標(biāo)準(zhǔn)系列。如上述標(biāo)樣不能滿足時，應(yīng)加配適當(dāng)人工混合標(biāo)準(zhǔn)補充之。標(biāo)準(zhǔn)樣片的制備按6.4步驟進行。

6.5.3.2 校正與校準(zhǔn)：譜線重疊校正采用強度校正。鐵對氟、硫有干擾，磷、硫?qū)︹c，鈣對硅、磷的干擾也應(yīng)引起注意。元素間的吸收 - 增強效應(yīng)用理論a系數(shù)或基本參數(shù)法校正。

6.6 光譜測量

6.6.1將儀器（4.4）預(yù)熱使其穩(wěn)定，根據(jù)x射線管型號調(diào)節(jié)管電壓和管電流，根據(jù)x射線熒光光譜儀的型號選定工作參數(shù)〔見附錄A〕。

6.6.2 測量監(jiān)控樣品樣品：設(shè)置監(jiān)控樣品名，測量監(jiān)控樣品中分析元素的X射線強度。監(jiān)控樣品中分析元素的參考強度必須與標(biāo)準(zhǔn)樣品在同一次開機中測量，以保證漂移校正的有效性。

6.6.3 測量標(biāo)準(zhǔn)樣品：輸入標(biāo)準(zhǔn)樣品名，測量標(biāo)準(zhǔn)樣品中各分析元素的X射線強度。

6.6.4 測量未知樣品：啟動定量分析程序，測量監(jiān)控樣品，進行儀器漂移校正。測量與未知樣品同批制備的濃度已知的檢查樣品。檢查樣品中各元素的分析結(jié)果要滿足表2規(guī)定的重復(fù)性要求。輸入未知樣品名，測量未知樣品。

7  分析結(jié)果的計算

測量標(biāo)準(zhǔn)樣品的X射線強度，得到強度與濃度的二次方程或一次方程。次方程式可通過*小二乘法計算。求出校準(zhǔn)曲線常數(shù)a、b、c和譜線重疊校正系數(shù)βik，并保存在計算機的定量分析軟件中。

根據(jù)未知樣品的X射線測量強度，由計算機軟件按照公式（1）計算含量并自動打印出測量結(jié)果。

YS/T273.14—200X

      （1）

式中：

Wi — 試樣中元素i的含量；

 — 元素i的X射線強度；

a、b、c — 系數(shù)。

8  精密度

8.1  重復(fù)性

在重復(fù)性條件下獲得的兩次獨立測試結(jié)果的測定值，測定結(jié)果的**差值不超過表2所規(guī)定的重復(fù)性限（r）要求。

表2 重復(fù)性

8.2  允許差

實驗室間分析結(jié)果的差值不大于下表所列允許差。

9 質(zhì)量保證與控制

應(yīng)用國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)樣品或內(nèi)控標(biāo)準(zhǔn)樣品，使用時至少每半年校核一次本方法標(biāo)準(zhǔn)的有效性。當(dāng)過程失控時，應(yīng)找出原因，糾正錯誤后，重新進行效對。

附錄A

（資料性附錄）

根據(jù)設(shè)備，在真空條件下，各元素測量條件見表A.1

表A.1

國家發(fā)展和改革委員會 發(fā)布