北京時(shí)代瑞光科技有限公司
主營產(chǎn)品：
各種無損檢測、理化計(jì)量儀器，主要有里氏硬度計(jì)、洛氏硬度計(jì)、維氏硬度計(jì)、布氏硬度計(jì)、布洛維硬度計(jì)、邵氏硬度計(jì)、超聲波硬度計(jì)、鉛筆硬度計(jì)、巴氏硬度計(jì)、韋氏硬度計(jì)、粗糙度儀、涂鍍層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀、磁粉探傷儀、金相顯微鏡、材料試驗(yàn)機(jī)、噪聲計(jì)、溫濕度計(jì)、風(fēng)速計(jì)、激光測距儀、色差儀、光澤度儀、電火花檢測儀、附著力測試儀、氣體檢測儀、埋地管線探測儀等在內(nèi)的上百種規(guī)格產(chǎn)品。
企業(yè)信息
第16年
- 入駐時(shí)間： 2009-08-28
- 聯(lián)系人：王先生
- 電話：13311011131
-
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- Email：13311011131@126.com
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測量方向，XDL? 系列測量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的X射線儀器。
詳情介紹：
一、X射線熒光儀——詳細(xì)介紹
憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的X射線儀器。
二、X射線熒光儀——特點(diǎn)
- X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務(wù)
- 由于測量距離可以調(diào)節(jié)（*大可達(dá) 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件
- 通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測試
- 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）
三、X射線熒光儀——應(yīng)用
鍍層厚度測量
- 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
- 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層
- 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
- 鉻鍍層，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
- 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
材料分析
- 電鍍槽液分析
- 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析
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