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產品詳情
簡單介紹：
在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且**地測定鍍層厚度時，XUL系列測量儀器是您的優(yōu)選解決方案。X射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有X射線熒光儀均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及X射線管。
詳情介紹：
一、XUL / XULM鍍層測厚儀——詳細介紹
在電鍍或電子元件生產過程中需要快速且**地測定鍍層厚度時，XUL系列測量儀器是您的優(yōu)選解決方案。X射線熒光儀器可自下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有X射線熒光儀均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量需求選擇不同的準直器、濾波器以及X射線管。
二、XUL / XULM鍍層測厚儀——特點
- 憑借寬大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
- 硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
- 可選配微聚焦 X 射線管，從而可測量直徑僅為 100 μm 的微型結構和測量表面
三、XUL / XULM鍍層測厚儀——應用
- 鉻鍍層，如：經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
- 防腐蝕鍍層，如鋼材上的鋅鍍層
- 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
- 接插件和連接器上的鍍層
- 電鍍槽液分析
X射線熒光儀
X射線熒光儀
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