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長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表

日期:2025-01-09 01:24
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長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)照表

下表列出長(zhǎng)度測(cè)量?jī)x的各種國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),包括日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、ISO國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和其它國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)。


標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)名稱(JIS)

日本 國(guó)際 德國(guó) 英國(guó) 法國(guó) 美國(guó) 中國(guó)
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
JIS
日本測(cè)量協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)
JMAS
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織
ISO
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)
DIN
英國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
BS
法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)
NF
美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)
ANSI
Federal
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
GB
1金屬尺 B 7516
 

 
8664372
 

 
GB 9056
2鋼卷尺 B 7512
 

 

 

 

 

 

 
3織物卷尺 B 7522
 

 

 

 

 

 

 
4游標(biāo)類卡尺
 

 

 

 

 

 

 

 
游標(biāo)卡尺(刻度:0.1,0.05mm) B 7507
 
3599862
 
XP E11-091GGG
C-111C
GB/T1214.2
游標(biāo)卡尺(刻度:0.02mm) B 7507
 
6906862887XP E11-091
 
GB/T1214.2
帶表卡尺 B 7507
 

 
862
 
XP E11-091
 
GB/T 6317
電子數(shù)顯卡尺 B 7507
 

 
862
 
XP E11-091
 
GB/T 14899
齒厚游標(biāo)卡尺 B 7531
 

 

 

 

 

 
GB/T 6316
5高度游標(biāo)卡尺 B 7517
 

 
VDI/VDE/DGQ
2618 Bl.9.3 Draft
1643
 
GGG
C-111C
GB/T 1214.3
6深度游標(biāo)卡尺 B 7518
 

 
VDI/VDE/DGQ
2618 Bl.9
(nach DIN 862)
6365NF E11-096GGG
C-111C
GB/T 1214.4
7千分尺
 

 

 

 

 

 

 

 
外徑千分尺 B 7502
 
3611863/1870NF E11-
090/095
ASME B89.1.13GB 1216
JB 6079
兩點(diǎn)式內(nèi)徑千分尺 B 7502
 
DIS 9121863/4959NF E11-090ASME B89.1.13GB 8177
測(cè)微頭 B 7502
 

 
863/21734
 

 
JB/T 10033
公法線千分尺 B 7502
 

 
863/3
 
XP E11-098/
NF E11-099

 
GB 1217
8深度千分尺 B 7544
 

 
863/26480NF E11-097/E11-206ASME B89.1.13GB 1218
9指示式千分尺 B 7520
 

 
863/35469NFE 11-090
 
GB 8061
10指示千分表B 75032001
2003
R 463878907NFE 11-050ASME/ANSIB89.1.10MGB 1219
GB 6309
11杠桿千分表 B 7533
 
DIS 9493 S2270,
VDI/VDE/DGQ
2618 Bl.11
2795XP E11-053ASME/ANSI
B891.10M
GB 6310
GB 8123
12內(nèi)徑千分表 B 75155009
5010

 
VDI/VDE/DGQ 2618Bl. 13.2 Draft
 
NF E11-011
 
GB 8122
13指針式千分尺 B 7519
 

 
879-1
879-3

 

 

 
GB 4755
GB/T 6320
14量塊 B 750630023650EN ISO 36504311NF EN ISO 3650ASME
B89.1.9
GB 6093
15高度設(shè)置千分尺
 
50157863VDI/VDE/DGQ 2618Bl.16
 

 

 

 
16標(biāo)準(zhǔn)尺 B 7541
 

 

 

 

 

 

 
17電感式測(cè)微儀 B 75365002
5003

 
32876-1
32876-1 Beiblatt 1
32876-2
VDI/VDE/DGQ
2618 Bl.26
1064NF E11-
062/068

 
JB/T 10036
18流量式氣動(dòng)測(cè)微儀 B 7535
 

 
2271-1
2271-2
2271-3
2271-4

 

 

 

 
19精密平臺(tái) B 7513
 
8512-1
8512-2
876-1
876-2
817NF E11-101GGG
P-463C
鑄鐵 GB 4986
JB/T 7974
巖石
GB 4987
JB/T 7975
 
20平面平晶 B 7430
 

 
58161-1
58161-2

 

 
GGG
O-635A

 
21平行平晶 B 7431
 

 

 

 

 

 

 
22測(cè)微顯微鏡 B 7150
Witddrawn
1999

 

 
58889
 

 

 

 
23測(cè)量顯微鏡 B 7153
 

 
VDI/VDE 2617 Bl.6
 

 

 

 
24輪廓投影儀 B 7184
 

 
VDI/VDE 2617 Bl.6
 
NFE 11-300
 

 
25表面結(jié)構(gòu): 輪廓法
 

 

 

 

 

 

 

 
(測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)-表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)片 ) B 0659-1
 
5436-1EN ISO 5436-1
 
NF EN ISO
5436-1

 

 
(測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)-軟件計(jì)量標(biāo)準(zhǔn))
 

 
5436-2EN ISO 5436-2
 
NF EN ISO
5436-2

 

 
(術(shù)語、定義和表面結(jié)構(gòu)參數(shù)) B 0601
 
4287EN ISO 4287
 
NF EN ISO
4287

 

 
(展成圓波紋度的定義,名稱與符號(hào)) B 0610
 

 

 

 

 

 

 
(表面紋理:斷面法花紋圖案參數(shù)) B 0631
 
12085EN ISO 12085
 
NF EN ISO 112085
 

 
(相位校正濾波器的計(jì)量特性) B 0632
 
11562EN ISO 11562
 
NF EN ISO 11562
 

 
(表面紋理特性評(píng)估規(guī)則與程序) B 0633
 
4288EN ISO 4288
 
NF EN ISO
4288

 

 
(接觸(探針)式測(cè)量?jī)x的公稱特性) B 0651
 
3274EN ISO 32741134NF EN 3274
 
GB 6062
(接觸(探針)式測(cè)量?jī)x的校準(zhǔn)) B 0670
 
3274EN ISO 12179
 
NF EN 3274
 

 
(具有分層功能特性的表面的特性評(píng)估-濾波處理和一般測(cè)量條件) B 0671-1
 
13565-1EN ISO 13565-1
 
NF EN ISO 13565-1
 

 
(具有分層功能特性的表面的特性評(píng)估-利用線性材料比率曲線表述高度特性) B 0671-2
 
13565-2EN ISO 13565-2
 
NF EN ISO 13565-2
 

 
(具有分層功能屬性的表面的特性評(píng)估-利用材料概率曲線表述高度特性) B 0671-3
 
13565-3EN ISO 13565-3
 
NF EN ISO 13565-3
 

 
26光波干涉式表面粗糙度測(cè)量?jī)x B 0652
 

 

 

 

 

 

 
27三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的安裝檢查和定期檢查
 

 

 
EN ISO 10360
 

 

 

 
(術(shù)語表) B 7440-1
 
10360-1EN ISO 10360-1
 
NF EN ISO 10360-1
 

 
(用于尺寸測(cè)量的 CMM)B 7440-2501710360-2EN ISO 10360-2ISO 10360-2NF EN ISO 10360-2ANSI/ASME
B 89.4.1
JB/Z 300
(帶有旋轉(zhuǎn)臺(tái)的 CMM) B 7440-3
 
10360-3EN ISO 10360-3
 
NF EN ISO 10360-3
 

 
(用于掃描測(cè)量模式的CMM) B 7440-4
 
10360-4EN ISO 10360-4
 
NF EN ISO 10360-4
 

 
(采用多探針檢測(cè)系統(tǒng)的CMM)
 

 
10360-5EN ISO 10360-5
 
NF EN ISO 10360-5
 

 
(高斯擬合要素計(jì)算過程中的誤差評(píng)定)
 

 
10360-6EN ISO 10360-6
 
NF EN ISO 10360-6
 

 
28數(shù)顯標(biāo)尺 B 74505014
 

 

 

 

 
JB/T 10030
29可通過測(cè)量半徑的變化進(jìn)行圓度偏差評(píng)估的儀器(圓度儀) B 7451
 
4291
6318
ISO 4291
ISO 6318

 

 

 

 
30
千分尺臺(tái)架
 
1001
 

 

 

 

 

 
31
輪廓/形狀的檢驗(yàn)方法(用于形狀、方向、位置) TR B 003
 
ISO/TR
5460
ISO 1101 Draft
 

 

 

 

 
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