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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
Solar Metrology - X射線熒光光譜儀
詳情介紹：
美國Solar Metrology – X射線熒光光譜儀(XRF) 能為薄膜太陽能行業(yè)提供成分及厚度測量
適用于軟性基底（如不銹鋼及塑料）及硬性基底（如玻璃）, 亦可用于
可測量鉬膜層的厚度, 所有銅銦鎵硒太陽能電池中的成分 (包括在硒化前, 銅銦鎵的成分測量)及硫化鎘緩沖層
備有多種型號可供選擇: 獨(dú)立式設(shè)備到可整合于生產(chǎn)在線的在線測量設(shè)備
在線式設(shè)備可安裝于真空設(shè)備上, 數(shù)據(jù)可實(shí)時(shí)用作調(diào)整生產(chǎn)的依據(jù), 減少引起的損失
設(shè)計(jì)完善, 部件都在真空艙外, 維修簡單方便
隔熱保護(hù)罩可選, 令設(shè)備可于300°C環(huán)境下工作
