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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
CERES - X射線金屬厚度元素、成份測量儀
詳情介紹：
X射線金屬厚度元素、成份測量儀
http://www.cerestechnologies.com
可選擇桌上型(樣品*大尺寸為500mm × 500mm或230mm × 250mm)
、超大型(樣品尺寸為1400mm × 1100mm)
• 提供In line在線量測型，可安裝在生產(chǎn)在線
• 使用高分辨率檢測器( Silicon PIN Detector或Silicon Drifted Detector)
• 可選擇全手動或全自動XY工作臺型號
• 先進 Fundamental Parameter運算功能
• 適合多層金屬厚度、元素成份測量
• 主要應(yīng)用:
• PCB、IC substrates、lead frame、被動組件、電鍍組件、半導體元
件的多層金屬成份、厚度測量，如：無鉛錫膏(Sn - Cu，Sn – Cu – Ag)
成份、超薄 immersion 金屬(Au / Ni / Cu) ... 等等。
• 光電通訊組件、 微波 RF 產(chǎn)品 、 光纖及 optical filter 上之各層金屬
膜厚, 如 : Au, Pt, Ti, Ni ...等等。