產品目錄
- EVG 晶圓封裝工藝設備
- DELCOM薄膜電阻計
- FSM
- Schmitt 粗糙度測量儀
- MicroSense振動樣品磁強計
- MicroSense電容式位移傳感器
- Herzan
- Herz 防振臺 隔振臺
- Filmetrics光學膜厚測量儀
- 美國4D動態(tài)光學干涉儀
- Chaona 3D光學輪廓儀
- FEI 電子顯微鏡
- Imago 三維原子探針
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能譜系統(tǒng)
- SNU
- WaveCatcher場地測量服務和工具
- 主軸跳動誤差分析儀 主軸運動誤差測試系統(tǒng) 主軸誤差分析儀
- MKS流量計
- MKS壓力計
- MKS殘余氣體分析儀
- MKS遠程等離子體源
- SCI 等離子清洗設備
- Simax 步進式光刻機
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手儀器及零件
聯(lián)系我們
中文網站：www.dymek.cn
上海分公司：
021-38613675/38613676
東莞分公司：
0769-89818868
北京分公司：
010-62615731/62615735
香港總公司：
00852-24153601
新聞詳情
岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F10-Arc的訂單(2015.3)
日期：2025-01-09 01:52
瀏覽次數(shù)：525
摘要：
岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F10-Arc的訂單。該客戶位于福江蘇省，主要經營生產銷售光學鏡片及其加鏡;鍍膜和相關配套產品。
F10-Arc膜厚測量儀采用的是波長范圍在380-1050nm的可見光干涉測量，能夠測量0.2um-15um范圍的膜層厚度，準確度高達0.5%或0.01um，精度高于0.001um，是一款性價比很高的膜厚測量設備。
F10-Arc圖片：
岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F10-Arc的訂單。該客戶位于福江蘇省，主要經營生產銷售光學鏡片及其加鏡;鍍膜和相關配套產品。
F10-Arc膜厚測量儀采用的是波長范圍在380-1050nm的可見光干涉測量，能夠測量0.2um-15um范圍的膜層厚度，準確度高達0.5%或0.01um，精度高于0.001um，是一款性價比很高的膜厚測量設備。
F10-Arc圖片：
