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新聞詳情
SEMICON China 2013，岱美誠邀您光臨
日期：2025-01-08 05:10
瀏覽次數：1061
摘要：
岱美將參加**十四屆SEMICON China 2013，在此誠摯邀請各位業(yè)界朋友蒞臨觀展，共同交流與分享，您的支持與參與將是我們*大的榮幸！
展位號：N4館，4705
時間：2013年3月19-3月21日
地點：上海新國際博覽中心
展位圖可見：http://expo.semi.org/china2013/Public/floorplan.aspx?MapID=168&BoothID=254144&Booth=4705
本次岱美將為您展示如下樣機：
Filmetrics光學膜厚測量儀 ： F20-UVX, F50
MicroSense電容式位移傳感器
RAM影像測試儀-美國進口高精度RAM光學影像測試儀 ：Sprint MVP 250P
Schmitt 光學表面粗糙度測試儀
按此進入網上展廳，先睹為快！
自1988年**在上海舉辦以來，SEMICON China已成為中國首要的半導體行業(yè)盛事之一，囊括當今世界上半導體制造領域主要的設備及材料廠商。SEMICON China見證了中國半導體制造業(yè)茁壯成長，加速發(fā)展的歷史，也必將為中國半導體制造業(yè)未來的強盛壯大作出貢獻。
展位號：N4館，4705
時間：2013年3月19-3月21日
地點：上海新國際博覽中心
展位圖可見：http://expo.semi.org/china2013/Public/floorplan.aspx?MapID=168&BoothID=254144&Booth=4705
本次岱美將為您展示如下樣機：
Filmetrics光學膜厚測量儀 ： F20-UVX, F50
MicroSense電容式位移傳感器
RAM影像測試儀-美國進口高精度RAM光學影像測試儀 ：Sprint MVP 250P
Schmitt 光學表面粗糙度測試儀
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SEMICON China 2013
| 日期及時間：2013年3月19–21日 · 2013年3月19日（星期二） 09：00-17：00 · 2013年3月20日（星期三） 09：00-17：00 · 2013年3月21日（星期四） 09：00-16：00 地點：上海新國際博覽中心（SNIEC） 主辦單位：SEMI和中國電子商會 |