產(chǎn)品目錄
- EVG 晶圓封裝工藝設(shè)備
- DELCOM薄膜電阻計
- FSM
- Schmitt 粗糙度測量儀
- MicroSense振動樣品磁強計
- MicroSense電容式位移傳感器
- Herzan
- Herz 防振臺 隔振臺
- Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀
- 美國4D動態(tài)光學(xué)干涉儀
- Chaona 3D光學(xué)輪廓儀
- FEI 電子顯微鏡
- Imago 三維原子探針
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能譜系統(tǒng)
- SNU
- WaveCatcher場地測量服務(wù)和工具
- 主軸跳動誤差分析儀 主軸運動誤差測試系統(tǒng) 主軸誤差分析儀
- MKS流量計
- MKS壓力計
- MKS殘余氣體分析儀
- MKS遠程等離子體源
- SCI 等離子清洗設(shè)備
- Simax 步進式光刻機
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手儀器及零件
聯(lián)系我們
中文網(wǎng)站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
東莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港總公司:
00852-24153601
新聞詳情
岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40的訂單(2012.10)
日期:2025-01-08 07:49
瀏覽次數(shù):1241
摘要:
岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40的訂單。該客戶位于北京市,是一所中科院下屬的研究機構(gòu),該客戶主要從事微電子領(lǐng)域研究與開發(fā)的國立研究機構(gòu),致力于打造現(xiàn)代化的高技術(shù)研究機構(gòu),成為中國IC技術(shù)和產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域一個技術(shù)**基地和高素質(zhì)高層次人才培養(yǎng)基地,實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)發(fā)展做出貢獻。 F40 儀器主要用于測量實驗研究的各種有機膜層的厚度。該客戶主要使用F40在微觀區(qū)域內(nèi)針對Si基底各種光學(xué)膜層進行厚度檢測。
F40膜厚測量儀:
F40膜厚測量儀:
F40 膜厚測量儀采用的是波長范圍在400-850nm的可見光干涉測量,能夠測量20nm-20um范圍的膜層厚度,精度高達0.032nm,是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。該產(chǎn)品將于2012年10月份,交予客戶正常使用。
產(chǎn)品數(shù)據(jù)下載:
產(chǎn)品數(shù)據(jù)下載:
http://www.dymekchina.cn/pddetaildate/downloadctg/20090923_2360359_1.html