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岱美中國第三次拿到香港某液晶研發(fā)生產(chǎn)企業(yè)采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單（2012.08.14）
日期：2025-01-08 07:51
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摘要：
岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單。該客戶總部設(shè)在香港, 生產(chǎn)基地位于廣東省汕尾市, 生產(chǎn)產(chǎn)房 占地面積100萬平方米，凈房面積達40萬平方米，擁有員工20000余人， 該客戶一直致力于研究開發(fā)，生產(chǎn)銷售各類電子產(chǎn)品， 產(chǎn)品有TN、HTN、STN、FSTN；COB， COG（國內(nèi)*早可量產(chǎn)COG產(chǎn)品的廠家），COF(chip on film)，帶菲林IC（TCP）模塊，四色ECB液晶顯示模塊，彩色液晶顯示模塊，及各類含觸摸屏液晶顯示模塊等。已開發(fā)的產(chǎn)品足有4000種以上，被廣泛應(yīng)用于如：手提電腦、手提POS機、GPS、手機、PDA、各類信息機、電話機、DVD、音響、醫(yī)療器材、儀器儀表、自動電源監(jiān)控糸統(tǒng)、游戲機、計算器、遙控器、空調(diào)等等領(lǐng)域。 F20-UV儀器主要用于測量SiO2及GST等各種膜層的厚度。
F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，精度高達0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
（系統(tǒng)將于2012年10月交付，安裝和和驗收）
F20-UV：
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F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，精度高達0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
（系統(tǒng)將于2012年10月交付，安裝和和驗收）
F20-UV：