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岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單（2012.06.01）
日期：2025-01-08 07:46
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摘要：
岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F20-UV的訂單。該客戶是一家**的專門模擬芯片代工廠，主要專門制造仿真半導(dǎo)體及雙極型內(nèi)容較高的混合訊號半導(dǎo)體，在汽車電子，MEMS，以及IGBT領(lǐng)域具有**地位。公司的客戶包括部分全球**的集成器件制造商及無生產(chǎn)線半導(dǎo)體公司，產(chǎn)品用于各類終端市場應(yīng)用方案，包括計算機，通訊及電子消費品。F20-UV儀器主要用于測量SiO2及GST等各種膜層的厚度。
F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，精度高達(dá)0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
（系統(tǒng)將于2012年9月交付，安裝和和驗收）
F20-UV
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F20-UV膜厚測量儀采用的是波長范圍在200-1100nm的紫外可見光干涉測量，能夠測量1nm-40um范圍的膜層厚度，精度高達(dá)0.1nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
（系統(tǒng)將于2012年9月交付，安裝和和驗收）
F20-UV