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岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20-UV，穿透平臺及連接顯微鏡配件的訂單（2012.04.06）
日期：2025-01-08 07:38
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摘要：
岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F20-UV，穿透平臺及連接顯微鏡配件的訂單。該客戶位于安徽合肥市，是一所教育部直屬的國內重點大學、國家“211工程”重點建設高校和 “985工程”優(yōu)勢學科**平臺建設高校。儀器主要用于測量研究性質類的各種膜層的厚度，由于測量種類很多，其所購的配件也很充分，帶有能夠測量*小3nm厚度的UV光源，測試穿透率的穿透平臺，另外還購了連接其顯微鏡的C-mount接頭，這樣就可以測試更小實驗樣品的厚度。
F20-UV膜厚測試儀采用200nm～1100nm紫外可見光進行干涉測量，單測厚度的情況下測試范圍達1nm～40um，分辨率高達0.1nm。由于儀器自身能夠提供*小200nm的紫外波段，能夠測量膜厚*小為1nm的薄膜層，在測量很薄膜層有很廣泛的應用。
F20-UV膜厚測試儀采用200nm～1100nm紫外可見光進行干涉測量，單測厚度的情況下測試范圍達1nm～40um，分辨率高達0.1nm。由于儀器自身能夠提供*小200nm的紫外波段，能夠測量膜厚*小為1nm的薄膜層，在測量很薄膜層有很廣泛的應用。
（F20-UV系統(tǒng)已于2011年7月交付，安裝和和驗收）
F20-UV.jpg)