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岱美中國拿到Filmetrics F40膜厚測量儀訂單（2012.08）
日期：2025-01-09 03:12
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摘要：
岱美中國拿到采購Filmetrics膜厚測量儀F40的訂單。該客戶在北京擁有完整的半導(dǎo)體工藝晶圓廠，可在4英寸SiC晶圓上實現(xiàn)半導(dǎo)體功率器件的制造工藝。目前產(chǎn)品以600V~1700V SiC 肖特基二極管為主。該客戶可以提供半導(dǎo)體功率器件應(yīng)用模塊的設(shè)計與組合方案，器件及模塊的設(shè)計和制作嚴(yán)格以市場為導(dǎo)向。 該客戶主要應(yīng)用Filmetrics F40膜厚測量儀進(jìn)行光電材料薄膜厚度測量。
F40膜厚測量儀：
F40膜厚測量儀采用的是波長范圍在400-850nm的可見光干涉測量，能夠測量20nm-20um范圍的膜層厚度，精度高達(dá)0.01nm，是一款性價比很高的膜厚測量設(shè)備。
產(chǎn)品手冊下載：
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