中國香港 – 2008年12月

岱美拿到采購FEI Phenom 臺(tái)式掃瞄電子顯微鏡的訂單, 客戶是一間香港的大學(xué), 從事光通訊光纖的研究及應(yīng)用.

FEI新推出的Phenom臺(tái)式型掃描電子顯微鏡，整合了光學(xué)和電子光學(xué)的顯微技術(shù)于一體，高達(dá)24,000X的放大倍數(shù)，自帶CCD導(dǎo)航定位攝像頭，觸摸屏操作，高亮的CeB6燈絲，30nm的分辨率，靈巧緊湊的設(shè)計(jì)，*簡便的操作，廣泛的應(yīng)用，超高的成像品質(zhì)，超快的成像時(shí)間（加載樣品到成像小于30秒）給微觀行業(yè)樣品形貌特征的觀測(cè)帶來耳目一新的感覺。

Phenom廣泛應(yīng)用于金屬材料、非金屬材料以及生命科學(xué)等領(lǐng)域。如金屬冶金行業(yè)金屬的組成、形態(tài)以及微結(jié)構(gòu)特征分布的檢測(cè)分析；纖維行業(yè)的結(jié)構(gòu)檢測(cè)、微納米纖維徑和表面形貌的研究；藥品生產(chǎn)微粒的快拍檢測(cè)以及定量特性的分析檢測(cè)；工業(yè)領(lǐng)域半導(dǎo)體電路的失效分析、檢測(cè)等

（該系統(tǒng)已于2009年3月交付，安裝和驗(yàn)收）