HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

日期：2025-01-09 16:46

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摘要：HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

nanoPartica SZ-100V2
納米粒度及Zeta電位分析儀
先進(jìn)的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級(jí)控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
簡(jiǎn)單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！
一臺(tái)設(shè)備、三種功能，可對(duì)每個(gè)測(cè)量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。

HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

粒徑測(cè)量范圍0.3 nm ~ 10 μm

SZ-100V2 系列采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測(cè)量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測(cè)量，該系列可準(zhǔn)確測(cè)量低至ppm 級(jí)低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實(shí)現(xiàn)對(duì)小體積樣品的測(cè)量。

Zeta 電位測(cè)量范圍– 500 ~ + 500 mV

使用 HORIBA Zeta電位樣品池測(cè)量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測(cè)和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對(duì)于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。

分子量測(cè)量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da

通過測(cè)量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的**分子量 (Mw) 和**維里系數(shù) (A2 )。

SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！

SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測(cè)量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測(cè)量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。
使用單臺(tái)設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對(duì)其造成污染。樣品池容量（*低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會(huì)受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。

HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測(cè)量規(guī)格

型號(hào)	SZ-100-S2（**粒徑和分子量測(cè)量）
測(cè)量原理	粒度測(cè)量：動(dòng)態(tài)光散射分子量測(cè)量：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)散射光強(qiáng)度）
測(cè)量范圍	粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點(diǎn)） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1
*大樣品濃度	40%*2
粒度測(cè)量精度	以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測(cè)量精度為 ±2% （不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化）
測(cè)量角度	90°和173°（自動(dòng)或手動(dòng)選擇）
樣品池	比色皿
測(cè)量時(shí)間	常規(guī)條件下約 2分鐘（從測(cè)量開始到顯示粒度測(cè)量結(jié)果）
所需樣品量	12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異）
分散劑	水、乙醇、有機(jī)溶劑

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*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。

HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 測(cè)量規(guī)格（粒度和分子量測(cè)量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）

型號(hào)	SZ-100-Z2（帶Zeta電位測(cè)量單元）
測(cè)量原理	Zeta 電位測(cè)量：激光多普勒電泳
測(cè)量范圍	-500 至 +500 mV
適合測(cè)量的尺寸范圍	小 2.0 nm，大 100 μm *4
測(cè)量電導(dǎo)率范圍	0 至 20 S/m*5
*大樣品濃度	40% *6
樣品池	石墨電極電位樣品池
測(cè)量時(shí)間	常規(guī)條件下約 2分鐘
所需樣品量	100 μL
分散劑	水

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*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導(dǎo)率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。

HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）

測(cè)量單元光學(xué)系統(tǒng)	光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW）檢測(cè)器：光電倍增管（PMT）
激光分類	**
工作溫度和濕度	15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝）
支架溫度控制溫度設(shè)置	0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫*高可達(dá) 70 °C）
吹掃	可以連接干燥氣體吹掃端口管。
電源供應(yīng)	交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA
外觀尺寸	528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分）
重量	25 kg
電腦	帶有一個(gè)可用 USB 端口的 Windows 計(jì)算機(jī)
界面	USB 2.0（測(cè)量單元和 PC 之間）
操作系統(tǒng)	Windows® 10 32/64 位

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尺寸（毫米）

HORIBA堀場(chǎng)納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2附件

粒徑測(cè)量樣品池

	單元名稱	*小音量	溶劑
A	一次性樣品池	1.2 mL	水性
B	半微量池	500 μL	水性，非水性
C	玻璃池	1.2 mL	水性，非水性
D	一次性半微量池	600 μL	水性
E	樣品池（帶蓋）	1.2 mL	水性，非水性
F	微量池（僅側(cè)面檢測(cè)）	12 μL	水性，非水性
G	亞微量池	200 μL	水性，非水性
H	流動(dòng)池	100 μL	水性，非水性