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冷熱沖擊試驗(yàn)箱
日期：2025-01-08 15:32
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摘要：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性。冷熱沖擊試驗(yàn)箱分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)完全靜止，采用獨(dú)特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試；
冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。