- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗指)
- 產(chǎn)品型號：關(guān)節(jié)試驗指
- 產(chǎn)品展商：其它品牌
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
ULP-02,Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗指),符合UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗指)
產(chǎn)品描述
ULP-02,Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗指),符合UL標(biāo)準(zhǔn).(品牌:美國.ED&D) ULP-02,Articulated Probe with Discs(UL關(guān)節(jié)試驗指)
| ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針 |
| FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS |
ULP-02: Articulated Probe with Discs(關(guān)節(jié)試驗指)
| Probe is required by GR-1089-CORE. Probe is plastic with 2 precision Delrin? disks. The disks are positioned at 35 mm. and 9 mm. from the top of probe. It is used to verify protection from hazardous parts. |
美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.