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> TSP-01,Test Sphere Probe(試驗球)

產(chǎn)品資料

TSP-01,Test Sphere Probe(試驗球)

TSP-01,Test Sphere Probe(試驗球)
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:TSP-01,Test Sphere Probe(試驗球)
  • 產(chǎn)品型號:試驗球
  • 產(chǎn)品展商:其他品牌
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
TSP-01,Test Sphere Probe(試驗球),品牌:美國.ED&D
產(chǎn)品描述
ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針
FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS

 TSP-01: Test Sphere Probe(試驗球)

 

 

This probe is intended to verify protection of persons against access to hazardous parts for an IP1 Code. Also used to verify protection from access with the back of the hand for an IP suffix A code.

美國.ED&D產(chǎn)品服務(wù)于:IBM ,美國航空暨太空總署,英代爾,蘋果, NCR ,索尼公司,太陽,飛利浦公司,思科, AT&T , Compaq , JVC , Hewlett-Packard ,摩托羅拉, Mattel ,戴爾,3 Com 等公司;專為UL , CSA , ETL , TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.

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