偏光顯微鏡 光片的制作過(guò)程：
在用 偏光顯微鏡 觀察時(shí)，其試樣要制成合格的磨光片或拋光片，簡(jiǎn)稱(chēng)為光片。制作過(guò)程如下：
(1) 選樣：根據(jù)觀察目的和分析要求選取具有代表性的樣品部位，切割成10×10×10mm樣塊，并清洗干凈。
(2) 鑲嵌或滲膠：對(duì)一些尺寸較小的樣品，需要進(jìn)行鑲嵌；對(duì)蘇松或氣孔較多的樣品應(yīng)先滲膠。
(3) 粗磨：選擇樣品較平整的一面，放在研磨機(jī)上用粗砂將表面磨平，整理外觀，磨去棱角。
(4) 細(xì)磨：用細(xì)砂研磨，直到把粗磨留下的痕跡全部**。
(5) 精磨：用更細(xì)的細(xì)砂研磨，直至表面平坦，放在亮處觀察隱約可見(jiàn)反光。
(6) 拋光：將試樣置于拋光機(jī)上，加研磨膏（拋光粉）進(jìn)行拋光，直至試樣表面光亮，反光顯微鏡下觀察無(wú)明顯劃痕為止。
(7) 標(biāo)記：磨好的試樣應(yīng)進(jìn)行編號(hào)，貼上標(biāo)簽，明確來(lái)源和名稱(chēng)。
(8) 侵蝕：根據(jù)觀察目的和分析要求選擇適合的侵蝕方法及侵蝕條件，對(duì)試樣進(jìn)行侵蝕。
需要同時(shí)在透射光和反射光下進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)分析時(shí)，將試樣制成光薄片，甚至超光薄片（<0.02mm）。制備光薄片時(shí)，先將試樣磨制成厚度為0.03mm的薄片，不加蓋玻片，然后在拋光機(jī)上對(duì)精磨后的薄片表面進(jìn)行拋光即可。
在用 偏光顯微鏡 觀察時(shí)，其試樣要制成合格的磨光片或拋光片，簡(jiǎn)稱(chēng)為光片。制作過(guò)程如下：
(1) 選樣：根據(jù)觀察目的和分析要求選取具有代表性的樣品部位，切割成10×10×10mm樣塊，并清洗干凈。
(2) 鑲嵌或滲膠：對(duì)一些尺寸較小的樣品，需要進(jìn)行鑲嵌；對(duì)蘇松或氣孔較多的樣品應(yīng)先滲膠。
(3) 粗磨：選擇樣品較平整的一面，放在研磨機(jī)上用粗砂將表面磨平，整理外觀，磨去棱角。
(4) 細(xì)磨：用細(xì)砂研磨，直到把粗磨留下的痕跡全部**。
(5) 精磨：用更細(xì)的細(xì)砂研磨，直至表面平坦，放在亮處觀察隱約可見(jiàn)反光。
(6) 拋光：將試樣置于拋光機(jī)上，加研磨膏（拋光粉）進(jìn)行拋光，直至試樣表面光亮，反光顯微鏡下觀察無(wú)明顯劃痕為止。
(7) 標(biāo)記：磨好的試樣應(yīng)進(jìn)行編號(hào)，貼上標(biāo)簽，明確來(lái)源和名稱(chēng)。
(8) 侵蝕：根據(jù)觀察目的和分析要求選擇適合的侵蝕方法及侵蝕條件，對(duì)試樣進(jìn)行侵蝕。
需要同時(shí)在透射光和反射光下進(jìn)行顯微結(jié)構(gòu)分析時(shí)，將試樣制成光薄片，甚至超光薄片（<0.02mm）。制備光薄片時(shí)，先將試樣磨制成厚度為0.03mm的薄片，不加蓋玻片，然后在拋光機(jī)上對(duì)精磨后的薄片表面進(jìn)行拋光即可。
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
