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一、雙85濕熱試驗(yàn)機(jī)適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備。雙85濕熱試驗(yàn)機(jī)采用進(jìn)口溫濕度控制器，箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，操作簡(jiǎn)便。箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口**不銹鋼鏡面板，外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。試驗(yàn)箱底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動(dòng)輪。


二、雙85濕熱試驗(yàn)機(jī)滿足的標(biāo)準(zhǔn)：

1.GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法

2.GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法

3.GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》

4.GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》

5.GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411濕熱試驗(yàn)

6.GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》

7.GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

8.GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

9.GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)

10.GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

11.GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》


三、雙85濕熱冷凍試驗(yàn)機(jī)適用于電工電子、儀器儀表及其他零部件、材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、使用的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類(lèi)電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電池、電感、PCB、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。



四、雙85濕熱冷凍試驗(yàn)機(jī)滿足標(biāo)準(zhǔn)：

雙85濕熱冷凍試驗(yàn)機(jī)性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求:

1.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB2423.1-89 （IEC68-2-1）

2.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89 （IEC68-2-2）

3.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T2423.3-93（IEC68-2-3）

4.電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）