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常見的EMC測(cè)試項(xiàng)目

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點(diǎn)擊量: 253059 來源: 福州仟度電子產(chǎn)品有限公司

  常見的EMC測(cè)試項(xiàng)目磁干擾(EMI)測(cè)試

  電波暗室測(cè)試(Semi-Anchoic Chamber Test)

  傳導(dǎo)測(cè)試(EMI Conduction Test)

  干擾功率測(cè)試(Disturbance Power Test)

  電源諧波測(cè)試(Harmonics Test)

  電壓閃爍測(cè)試(Flicker Test)

  不連續(xù)干擾測(cè)試(Click Test)

  電磁耐受(EMS)測(cè)試

  耐靜電測(cè)試(ESD)

  耐射頻輻射測(cè)試(RS)

  耐脈沖雜訊測(cè)試(EFT)

  耐雷擊測(cè)試(Surge)

  耐射頻傳導(dǎo)測(cè)試(CS)

  耐電源頻率磁場(chǎng)測(cè)試(Magnetic Field)

  耐電壓變動(dòng)測(cè)試(Voltage Dips & Interruptions)