雷達物位計測量時需要注意的問題
FY-D800系列雷達物位計是將發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和**的測量。FY-D800系列雷達物位計即使在工況比較復雜，存在虛假回波的情況下，其用*新的微處理技術和調(diào)試軟件也可以準確的分析出物位的回波。它在測量時需要注意下面兩點
1、液體、物位的測量： 對于液面相對平穩(wěn)的罐體，且被測液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體，或被測液體的介電常數(shù)較低，應優(yōu)選導波雷達。因為導波管對液面有整型作用，且導波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于被測液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強的情況，不能選擇導波管方式測量，因為粘附和結(jié)晶會堵死導波管。從而形成虛假物位?？梢赃x擇導波桿方式來測量。當介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對測量基本無影響;但橋接性涂污的形成卻能導致明顯的測量誤差，當塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導體上或橋接于兩個波導體之間時，就會在該點測得虛假物位。
2、固體物料測量：對于粉狀物料，可以選擇纜式導波雷達。由于微波在鋼纜中傳輸，物料在輸送過程中產(chǎn)生的粉塵對測量沒有影響。閃速爐的精礦、石英、粉煤均采用FY-D700系列的纜式導波雷達，測量效果良好。對于顆粒狀或塊狀物料，須選用高頻雷達物位計。而且微波的發(fā)射角愈小愈好。因為微波的頻率越高，微波的波長越短，保證發(fā)射出去的雷達波能夠在粗糙的固體表面*大程度地被 反射回雷達探頭，發(fā)射角愈小，形成雜波和漫發(fā)射的概率就越小。
公安機關備案號：
