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FLIR 熱像儀觀察到的設(shè)備

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點(diǎn)擊量: 215081 來源: 深圳市亞泰光電技術(shù)有限公司

  

所謂電氣設(shè)備熱缺陷,通常是指通過一定手段檢測得到,由于其內(nèi)在或外在原因所造成的的發(fā)熱現(xiàn)象。

  根據(jù)缺陷所產(chǎn)生的原因不同,我們通常歸納為3 種:一種是長期暴露在空氣中的部件,由于溫度濕度的影響,或表面結(jié)垢而引起的接觸**,或由于外力作用所引起的部件損傷,因而使得的導(dǎo)電截面積減少而產(chǎn)生的發(fā)熱。如接頭連接**,螺栓,墊圈未壓緊;長期運(yùn)行腐蝕氧化;大氣中的活性氣體、灰塵引起的腐蝕;元器件材質(zhì)**,加工安裝工藝不好造成導(dǎo)體損傷;機(jī)械振動(dòng)等各種原因所造成的導(dǎo)體實(shí)際截面降低;負(fù)荷電流不穩(wěn)或超標(biāo)等。

  另一類是由于電器內(nèi)部本身故障,如內(nèi)部連接部件接觸**導(dǎo)致的電阻過大;絕緣材料老化、開裂、脫落;內(nèi)部元件受潮,元?dú)饧p耗增大;冷卻介質(zhì)管路阻塞等等。

  對于那些可以直接觀察到的設(shè)備及元?dú)饧?FLIR 熱像儀 都能夠發(fā)現(xiàn)所有連接點(diǎn)的熱隱患。對于那些由于被遮擋而無法直接看到的部分,則可以根據(jù)其熱量傳遞到外面部件上的情況加以分析,從而得出結(jié)論。由于現(xiàn)場的實(shí)際情況千變?nèi)f化,即便你通過熱像儀得到了一張有熱點(diǎn)的圖片,要想作出一個(gè)**的判斷,可能會受許多因素的影響。如當(dāng)前的溫度,風(fēng)量,負(fù)荷等情況。我們可以根據(jù)不同的特點(diǎn),作相關(guān)的分析,作出相應(yīng)的判斷如:

  為保證電力生產(chǎn)**高效運(yùn)行,對電力設(shè)備狀態(tài)檢修提出了更高的要求。由于狀態(tài)檢修主要依賴于對運(yùn)行中設(shè)備的狀態(tài)檢測以及在線監(jiān)測手段,所以,電力設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)檢測和在線監(jiān)測在電力**生產(chǎn)中始終起著重要的作用。紅外成像技術(shù)作為一門新技術(shù),在電力設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)檢測中有著無比的優(yōu)越性。紅外成像是以設(shè)備的熱狀態(tài)分布為依據(jù)對設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)良好與否進(jìn)行診斷,它具有不停運(yùn)、不接觸、遠(yuǎn)距離、快速、直觀地對設(shè)備的熱狀態(tài)進(jìn)行成像。由于設(shè)備的熱像圖是設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)下熱狀態(tài)及其溫度分布的真實(shí)描寫,而電力設(shè)備在運(yùn)行狀態(tài)下的熱分布正常與否是判斷設(shè)備狀態(tài)良好與否的一個(gè)重要特征,因而。采用紅外成像技術(shù)可以通過對設(shè)備熱像圖的分析來診斷設(shè)備的狀態(tài)及其隱患缺陷。