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絕緣電阻表類(lèi)

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絕緣電阻表類(lèi)

 

1、絕緣電阻表的充電能力對(duì)容性試品絕緣測(cè)試的影響。                     

1. 絕緣電阻表充電能力對(duì)容性試品絕緣測(cè)試的影響。
      “中華人民共和國(guó)電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)DL/T 845.1－2004 電子式絕緣電阻表”中，“5.7輸出短路電流”條和“6.5工作電壓建立時(shí)間”條，對(duì)電子式絕緣電阻表的輸出短路電流和工作電壓建立時(shí)間給出了要求。這是因?yàn)榻^緣電阻表( 絕緣電阻測(cè)試儀 )的這兩項(xiàng)能力指標(biāo)對(duì)于變壓器、電纜、電機(jī)等大型設(shè)備絕緣電阻、吸收比、極化指數(shù)的準(zhǔn)確測(cè)量具有極大的影響。           

下面我們就這兩項(xiàng)指標(biāo)對(duì)絕緣測(cè)試的影響及檢測(cè)方法作一些粗簡(jiǎn)的定量分析，給電力系統(tǒng)作絕緣檢測(cè)的工程技術(shù)人員提供一個(gè)參考。

 絕緣電阻表輸出短路電流的大小可反映出該絕緣電阻表( 絕緣電阻測(cè)試儀 )內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過(guò)程的開(kāi)始階段，絕緣電阻表內(nèi)的高壓源要通過(guò)其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻表的輸出額定高壓值。

 顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過(guò)程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其時(shí)間可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積τ決定（單位為秒）。

請(qǐng)注意，給電容充電的電流IC與被測(cè)試品絕緣電阻上流過(guò)的電流IR，在測(cè)試中是一起組成IX,, 并流入絕緣電阻表內(nèi)作為被測(cè)電流。即絕緣電阻表測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這使測(cè)得的絕緣電阻值偏小。

 例如：

額定電壓為5000V的絕緣電阻表，若其短路輸出電流為80μA(3122、3123絕緣表)，

其內(nèi)阻為：5000V/80μA＝62MΩ

如果試品容量為0.15μF，則時(shí)間常數(shù)τ=62MΩ×0.15μF≈9 (秒)

在18秒時(shí)刻，我們按（1式）計(jì)算得到，電容上的電壓（B點(diǎn)）僅為4323V,

試品與高壓源間的電壓差（A、B點(diǎn)間）為：

5000V－4323V=676V

則充電電流應(yīng)為：

 676V÷60 MΩ=11.3μA。

由此可見(jiàn)，僅由充電電流而形成的等效電阻為：

5000V÷11.3μA＝442MΩ

若正確絕緣值為1000MΩ，則顯示的測(cè)得絕緣值僅為306MΩ。

這種試值已不能反映絕緣值的真實(shí)狀況了，而且試值主要是隨容性負(fù)載容量的變化而改變，即容量小，測(cè)試阻值大；容量大，測(cè)試阻值小。它會(huì)使吸收比值R60S/R15S嚴(yán)重偏大。

所以，為保障準(zhǔn)確測(cè)得R15S，R60S的試值，應(yīng)選用充電速度快的大容量絕緣電阻表。

“DL/T 845.1－2004 電子式絕緣電阻表”中, 要求絕緣電阻表輸出短路電流應(yīng)大于0.5mA、1 mA、2 mA、5 mA，要求高的場(chǎng)合應(yīng)盡量選擇輸出短路電流較大的絕緣電阻表。

按如下圖示的檢定方法，可鑒別絕緣電阻表的充電能力及其對(duì)吸收比R60S/R15S測(cè)量的影響量。

C可采用CBB型無(wú)極化優(yōu)良品質(zhì)的電容，且吸收電荷極少；容量為0.15μ/6.3kV R可采用5000MΩ/5kV的電阻。

當(dāng)測(cè)量時(shí)間為15秒時(shí)，儀器顯示應(yīng)為R15S＞4750 MΩ(因有電容C存在，所以被測(cè)阻值要比標(biāo)稱(chēng)值小5%); 

當(dāng)測(cè)量時(shí)間為60秒時(shí)，儀器顯示應(yīng)為R60S=5000MΩ，吸收比應(yīng)為R60S/R15S≤1.05。說(shuō)明：在第15秒時(shí)刻，儀器向電容C充電的電流越小，表示儀器的充電能力越強(qiáng)，吸收比就越趨于“1”。在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的吸收比才越準(zhǔn)確。