GJB128A-97 半導體分立器試驗方法
1000系列 環(huán)境試驗 方法
1001 低氣壓
1、目的
本試驗是為了在模擬 低氣壓條件 下檢驗器伯的適應(yīng)性,該條件是模擬飛行器在高空飛行時,其密封部分所到到的。
2、程序
器件應(yīng)按照GJB 360A中的方法105規(guī)定進行試驗,另外,還應(yīng)采用下列細則:
a、在試驗前20 min和試驗過程中,試驗溫度為25±5℃;
b、應(yīng)加規(guī)定的電壓,并從正常大氣壓降到規(guī)定的*低氣壓和再回到正常大氣壓的的定個返回內(nèi)進行監(jiān)測,檢測出失效的器件。
3、失效判據(jù)
如果器件出現(xiàn)飛弧,有害的電暈或其它缺陷,或者有妨礙器件工作的劣化現(xiàn)象,則認為器件失效。
1021 耐濕試驗
1、目的
本試驗的目的是用加速方式評定元器件及其所用材料在高濕和火熱(典型的熱帶環(huán)境)條件下搞衰變作用的能力,大多數(shù)火熱條件下退化現(xiàn)象是直接地由于有缺陷的絕緣材料吸附水蒸汽和火熱(典型的熱帶環(huán)境)條件下抗衷變作用的能力。大多數(shù)火熱條件下退化現(xiàn)象是直接或間接地由于有缺陷的絕緣材料吸附后水蒸汽和水膜,以及由于金屬和絕緣材料表面變濕而引起的。這種現(xiàn)象會產(chǎn)生多種類型的衰變,其中包括金屬的腐蝕、材料成分的變化及電特性變壞。本試驗與穩(wěn)態(tài)潮濕試驗不同,它采用溫度打抱不平來提高試驗效果,其目的在于提供一個凝露和干燥的過程,使腐蝕過程加速,并使得進入密封外殼內(nèi)的水汽產(chǎn)生“呼吸”作用。在高溫下,潮氣的影響將更加明顯,也能增強試驗效果。試驗包括低溫子循環(huán),它的作用是加速顯在其他情況下不易看清的衰變跡象,因為凝結(jié)水汽的應(yīng)力會使裂縫加寬。這樣,通過測量電特性(包括擊穿電壓和絕緣電阻)或進行密封試驗就可以揭示該衰變現(xiàn)象。規(guī)定在絕緣體上施加極性電壓,從而研究電解的可能性,因為電解會助長可能發(fā)生的介質(zhì)擊穿。如果需要的話,為了確定截流元件特別是細導線和接點的抗電化學腐蝕的能力,本試驗還可以對某些元件施加一定的電負荷。本試驗獲得的結(jié)果是可重復產(chǎn)生的,并已通過現(xiàn)場失效的市井得到證實,已證明試驗?zāi)芸煽康刂赋瞿男┰荒茉跓釒l件下使用。
方法1031 高溫壽命 (非工作)
1、目的
本試驗的目的是為了確定符伯在承受規(guī)定的條件下是否符合規(guī)定的失效率。
1、程度
按照GJB 33A規(guī)定的壽命試驗要求,使鉆件在規(guī)定的環(huán)境條件下(通常是*高溫度)貯存規(guī)定的時間。按GJB 33A規(guī)定的壽命試驗時間把樣品從規(guī)定的環(huán)境條件下移開,并使其達到試驗的標準大氣條件。把樣品從規(guī)定的環(huán)境條件下移開后,96H內(nèi)完成鑒定及質(zhì)量一高產(chǎn)田性試驗所規(guī)定的搞點測試、如果在規(guī)定的時間內(nèi)不能完成測量,那么,在完成試驗后的測量前,器件至少應(yīng)追加24H相同條件的試驗。
2.1外觀檢查
試組后在無放大的條件下檢查,標志應(yīng)清晰,使涂層應(yīng)無明顯的剝落,凹坑、銹蝕,這些影響器件的機械和電氣應(yīng)用。
相關(guān)設(shè)備: 恒溫恒濕試驗箱 / 紫外線老化試驗箱 / 冷熱沖擊試驗箱 / 高低溫試驗箱 / 氙燈老化試驗箱 / 箱式淋雨試驗裝置 / 砂塵試驗箱 / 高低溫低氣壓試驗箱 / 快速升降溫試驗箱 / 鹽水噴霧試驗箱 / 精密烘箱 / 真空烤箱 / 隧道式自動式焗爐 / UV光固化機 / 步入式恒溫恒濕試驗室 / 大型高低溫試驗室 / 大型淋雨試驗室 /空調(diào)焓差實驗室/大型鹽霧腐蝕試驗室/溫濕度振動三綜合試驗室/ 氙燈耐候試驗箱 /拉力機/模擬運輸振動臺/其它自動化檢測平臺
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