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如何使用金相顯微鏡觀察導電粒子

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點擊量: 240599 來源: 上海鑄金分析儀器有限公司

  使用金相顯微鏡系列配合起偏,檢偏及DIC微分干涉,可以很好的觀察屏的導電粒子,確認導電粒子個數是否符合要求。

  首先,需要觀察導電粒子必須要有配有DIC及起偏檢偏器的金相顯微鏡。對于觀察導電粒子來說一般選用的鏡頭是要求為不超過20倍為*好,超過后會由于景深的問題導致觀察效果模糊,無法觀察到*好的效果。

  準備好金相顯微鏡及必要的屏后就可以開始觀察導電粒子了。首先把DIC及起偏檢偏拉出,然后把屏放置在載物臺上,調整好焦距,通過載物臺移動后找到觀察位置?,F在插入起偏及檢偏器,通過目鏡觀察屏上位置,再調節(jié)檢偏器,直到光線*黑時停止調節(jié)檢偏器。*后插入DIC,調節(jié)DIC進行偏光直到看到導電粒子*清晰時就可以停止了。

  以上就是使用金相顯微鏡觀察導電粒子的簡單方法!