在物位測量中,雷達微波技術相對于超聲波有很大的優(yōu)點。比如Endress+Hauser 公司的非接觸式雷達Micropilot M*高可以承受400度的過程溫度,可以承受從真空到160公斤的過程壓力。而對于導波雷達Levelflex,*高可承受的過程溫度也是400攝氏度,而*高過程壓力甚至可以達到400公斤。即使在測量過程溫度為200度,過程壓力為50公斤的的汽包液位時,由于運用了“氣相測量誤差補償功能”的獨特技術,雷達波在氣相中速度的改變對測量結果仍然不構成任何影響。
微波的固有物理性質是雷達技術的另一個優(yōu)勢,微波能夠穿透大量的塑料和部分型號的玻璃,因此用雷達儀表測量某些塑料或者玻璃容器內的溶液時,不需要安裝在專門制作的安裝短管中,而是直接安裝在容器外,利用雷達波穿透容器直接進行液位測量(如圖2所示)
圖2:微波雷達 Micropilot M FMR240從容器外測量液位
導波雷達不懼嚴苛工況
當現(xiàn)場的液位由于某種原因產(chǎn)生大量的泡沫時,用導波雷達Levelflex M來測量是*佳選擇,導波雷達由于只有1GHZ的頻率,而且有導波纜或者導波桿進行導波,測量效果完全不受泡沫影響。有時候現(xiàn)場需要測量更加復雜的情況時,比如由于多級攪拌引起的劇烈液面波動并伴隨著大量泡沫,此時測量只能選擇壓力儀表或者差壓儀表進行液位測量,其他的特殊工況,比如液體分界面的測量,可能還需要多種不同的測量方法來滿足不同的過程條件。
如果用導波雷達來測量界面時,我們可以得到三個量的輸出(分界面位置,上層液位高度,總液位);如果用電容式物位計進行測量,我們只能輸出界面位置,但是在出現(xiàn)乳化層時仍能夠**的測量,而導波雷達的微波會因被乳化層吸收而衰減,電容會根據(jù)乳化層的的電容值計算出連續(xù)液位。如果遇到更復雜的工況,比如上層液體全部是混合物時,只能選用GAMMA射線進行測量。
固體測量的**解決方案
如果測量固體料位,當進料時,固體表面往往會形成一個安息角,而如果出料時,表面會形成一個下凹的漏斗,使用非接觸式的雷達波或超聲波測量在這種場合時,往往會由于固體表面對波的發(fā)散而無法測量到正確信號,而此時導波雷達比如Levelflex M則表現(xiàn)出優(yōu)越性。當表面安息角過大,而造成物位表面信號過于分散無法測量時,導波雷達是***適合的儀表,這種特殊的工況其測量效果幾乎沒有任何影響(如圖3所示)。
圖3:利用導播雷達Levelflex M測量糖儲罐
輕質的粉末狀固體比如固體二氧化硅粉末,聚苯乙烯,或木屑粉末在濕度不高的情況下,密度和介電常數(shù)都很低,在這種情況下,雷達儀表和超聲波儀表都無法保證可靠測量,此時*好的選擇是機械式儀表,現(xiàn)在的機械式儀表也一直在進行技術改進,比如重錘物位計Silopilot M,控制部分已經(jīng)完全用電子部件替代了機械部件,這其中就包含了代表*新科技的頻率轉換控制器,利用單相供電,帶動三相拖動電機工作。重錘式儀表工作時,不會象雷達或者超聲波那樣受到固料“堆角”的影響,這樣在設計容器的過程結構時,完全不用考慮這些因素所帶來的影響。
在一些極端工況中,比如測量在非常高的固體容器中的水泥或面粉,氣動進料時會引起大量的粉塵和粘附,使用超聲波時由于信號衰減過大而無法測量,但是有一些功能強大的雷達,即使在這種嚴苛的條件下仍然能夠穩(wěn)定可靠的測量。
在一些測量堅硬固體比如碎石的場合,我們可以提供具有自清洗功能的超聲波探頭,超聲波探頭可以通過自身的震動來清潔,這樣無須額外的清潔維護。只有分體式超聲波的探頭才具有這種功能,探頭和變送器的距離可以擴展到300米,在現(xiàn)場工況很惡劣的場合,比如碎石機的現(xiàn)場噪音和震動很大,可以通過分體式探頭把變送器安裝在便于調試的地點。
物位測量的特殊工況幾乎無窮無盡,難以一一列舉。北京泰威智達儀表科技有限公司,銷售**:010-87916521,010-87919508,在選型時,不能只傾向于選擇“*時髦”的技術,要根據(jù)現(xiàn)場的實際情況進行選型,有時候傳統(tǒng)的解決方案比如電容,超聲波,壓力或其他很多機械式儀表才是*佳的選擇。