GB/T 5193-85鈦及鈦合金加工產(chǎn)品超聲波探傷方法
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
鈦及鈦合金加工產(chǎn)品超聲波探傷方法 GB/T5193-85
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本標(biāo)準(zhǔn)適用于橫截面厚度大于或等于13mm的鈦及鈦合金加工產(chǎn)品的超聲波探傷。
1一般要求
1.1 目的
主要用于探測(cè)內(nèi)部缺陷，如裂紋、氣孔、疏松及其它暴露或未暴露到表面的組織上的不連續(xù)性。
1.2 方法類別
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定采用縱波脈沖反射法進(jìn)行超聲波探傷。需要時(shí)，供需雙方協(xié)商也可采用橫波或其它波型，如Φ13~
1.3 人員
操作人員應(yīng)達(dá)到部級(jí)或與此相當(dāng)?shù)膶W(xué)會(huì)級(jí)三級(jí)以上無(wú)損檢測(cè)人員水平，簽發(fā)及解釋檢驗(yàn)報(bào)告人員應(yīng)達(dá)到部級(jí)或與此相當(dāng)?shù)膶W(xué)會(huì)級(jí)二級(jí)以上人員水平。
1.4 表面
2探傷設(shè)備
2.1 探傷儀
探傷儀應(yīng)符合JB1834—76《A型脈沖反射式超聲波探傷儀技術(shù)條件》要求。
2.2 探頭
2.3 耦合劑
3對(duì)比試塊
3.1對(duì)比試塊應(yīng)采用與被檢驗(yàn)產(chǎn)品的聲學(xué)性能和表面狀態(tài)相同或類似的鈦及鈦合金材料制備。其聲學(xué)特性的變化要求在±25%以內(nèi)。如果超出±25%，則應(yīng)進(jìn)行必要的補(bǔ)償校正，校正方法應(yīng)征得用戶的同意。
3.2 對(duì)比試塊加工技術(shù)條件，應(yīng)滿足本標(biāo)準(zhǔn)附錄A的要求。
3.3檢驗(yàn)平面產(chǎn)品時(shí)，應(yīng)使用平面試塊；檢驗(yàn)曲面產(chǎn)品時(shí)，應(yīng)使用與探傷面幾何形狀大致相同的對(duì)比試塊，其差別不應(yīng)超過(guò)被檢驗(yàn)產(chǎn)品曲率半徑的±25%。
3.4縱波校準(zhǔn)時(shí)，反射體采用平底孔。其埋藏深度根據(jù)產(chǎn)品的外形和截面厚度“T”，按表1中的數(shù)值來(lái)確定。
表1 mm
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被 檢 驗(yàn) 產(chǎn) 品 |
平底孔埋藏深度 |
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13~26 |
T/2,6.5 |
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圓 形 產(chǎn) 品 |
>26~50 |
T/2,T-6.5,6.5 |
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>50~!30 |
T-13,T/2,T/4 |
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直 徑 |
>130 |
T/2,T/4,T/8 |
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13~50 |
T-3.5,T/2 |
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平 面 產(chǎn) 品 |
>50~!30 |
T-13,T/2,T/4 |
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>130~200 |
T-13,T/2,T/4,T/8 |
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厚 度 |
>200 |
T/2,T/4,T/8 |
4探傷
4.1探傷前，應(yīng)采用適當(dāng)?shù)膶?duì)比試塊來(lái)校準(zhǔn)儀器，使試塊中人工缺陷的反射信號(hào)幅度在滿屏高度的25%~90%范圍內(nèi)，以保證被檢驗(yàn)的產(chǎn)品能按標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行檢驗(yàn)。
4.2水浸法縱波探傷時(shí)，調(diào)節(jié)聲束入射角，使入射面的反射信號(hào)幅度達(dá)到*大，從而使縱波入射角標(biāo)準(zhǔn)化（直射聲束探傷）。探傷時(shí)，已確定的角度其變化應(yīng)在±2°以內(nèi)。
4.3底波損失的測(cè)定，應(yīng)當(dāng)在被檢產(chǎn)品相互平行的表面上進(jìn)行。在掃查靈敏度下，當(dāng)被檢驗(yàn)產(chǎn)品的底反射信號(hào)的平均變化值超過(guò)對(duì)比試塊所記錄的底反射信號(hào)高度的±50%時(shí)，不能進(jìn)行探傷，須對(duì)被檢驗(yàn)產(chǎn)品進(jìn)行必要的處理，以滿足探傷要求。
4.4允許的本底噪聲應(yīng)不超過(guò)對(duì)比試塊中參考平底孔反射高度的70%。如果本底噪聲超過(guò)這些水平，所涉及的截面應(yīng)當(dāng)重新**檢查，以保證產(chǎn)品滿足規(guī)定的要求。
4.5 水浸法探傷時(shí)脈沖重復(fù)頻率不低于400Hz。
4.6探傷時(shí)的掃描速度應(yīng)不大于分辨出對(duì)比試塊中的平底孔的掃描速度。對(duì)于無(wú)報(bào)警系統(tǒng)的手動(dòng)掃描，推薦掃描速度，應(yīng)不大于
4.7儀器控制旋鈕設(shè)定位置和校準(zhǔn)時(shí)所確定的參數(shù)，在產(chǎn)品探傷期間不得改變。脈沖寬度設(shè)定在*小，以便能提供適當(dāng)?shù)姆直媪Α?/span>
4.8 探傷表面積應(yīng)符合表2的規(guī)定
表2 mm
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被檢驗(yàn)產(chǎn)品 |
截面厚度 |
探傷面積 |
備注 |
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棒,直徑為13~50 |
部分圓周 |
具體情況由雙方協(xié)商 |
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棒,直徑大于50 |
整個(gè)圓周 |
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棒和鍛坯 |
鍛坯 |
所有面 |
端面除外 |
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餅、環(huán)坯 |
兩個(gè)端面 |
環(huán)坯需增加外側(cè)面檢查 |
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板材 |
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雙面 |
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鍛件和擠壓件型材 |
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按圖紙和訂貨單要求的表面探傷 |
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注：如果用橫波或折射縱波代替鄰接面檢驗(yàn)，則所有平面產(chǎn)品可以只進(jìn)行單面檢驗(yàn)或雙面檢驗(yàn)。這些檢驗(yàn)和校準(zhǔn)及檢驗(yàn)參數(shù)，應(yīng)由供需雙方協(xié)商決定。
4.9水浸法探傷時(shí)，應(yīng)根據(jù)探頭和檢驗(yàn)時(shí)的金屬聲程選取*佳水程。檢驗(yàn)時(shí)水程的變化，應(yīng)在所確定的*佳水程的±
4.10接觸法探傷時(shí)，探傷的間距不應(yīng)大于探頭晶片直徑的1/2或有效束直徑的1/2，后者按
4.11 水浸法或接觸法探傷時(shí)，都可進(jìn)行分區(qū)域檢驗(yàn)，這時(shí)應(yīng)對(duì)各個(gè)區(qū)域分別進(jìn)行校準(zhǔn)。
5驗(yàn)收
5.1縱波探傷的超聲質(zhì)量要求，按表3規(guī)定分為四級(jí)。在材料技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或訂貨單上應(yīng)指定適用的級(jí)別。
表3 mm
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級(jí) 別 |
單個(gè)不連續(xù)性的孔直徑 |
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AA |
0.8 |
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A1 |
1.2 |
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A |
2.0 |
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B |
3.2 |
5.2任何一個(gè)不連續(xù)點(diǎn)的反射信號(hào)，應(yīng)不大于與該不連續(xù)點(diǎn)相同深度的參考平底孔的反射信號(hào)。
5.3底波損失的檢查，當(dāng)?shù)撞糠瓷湫盘?hào)與相同或相似的同類無(wú)缺陷產(chǎn)品比較時(shí)，出現(xiàn)大于50%的非飽和底波損失，同時(shí)在入射面與底面間，伴隨有訊號(hào)的增加（至少為正常的本底噪聲信號(hào)的兩倍），這時(shí)產(chǎn)品是不能接受的。
5.4 超出4.4條規(guī)定的噪聲電平是不能接受的。
5.5使用特殊的對(duì)比試塊或沒列入表3的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢查時(shí)，驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)由供需雙方協(xié)商決定。
6拒收與處理
經(jīng)評(píng)定反射信號(hào)超出確定的標(biāo)準(zhǔn)，但缺陷在制造過(guò)程中可以被消除掉，這樣的產(chǎn)品可由供需雙方協(xié)商決定，凡不能消除的一概拒收。
附錄A
對(duì)比試塊技術(shù)要求
（補(bǔ)充件）
A.1 加工對(duì)比試塊的尺寸和公差要求見下圖。
對(duì)比試塊外形尺寸和公差圖
①X為金屬聲程。
②當(dāng)Y為50mm，適用于檢測(cè)小于150mm的深度范圍，當(dāng)Y為64mm，適用于150~300mm深度范圍；當(dāng)檢測(cè)深度大于300mm，應(yīng)用更大直徑。
③a≤1.6mm，偏差為±0.013mm，a>1.6mm，偏差為±0.03mm。
④b≥3.2mm，h≥3.2mm。
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附加說(shuō)明：
本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)總公司提出。
本標(biāo)準(zhǔn)由寶雞有色金屬加工廠負(fù)責(zé)起草。
本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人胡紹庭、趙鳳蘭。
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
公安機(jī)關(guān)備案號(hào)：
