CSI原子力顯微鏡的詳細介紹

多種工作模式

接觸模式

輕敲模式

CAFM（導電AFM）

PFM（壓電力）

MFM/EFM（磁力/靜電力）

FMM（力調制）

HD-KFM（開爾文力）

ResiScope（擴散電阻）

STM

*佳的電特性測量模塊

HD-KFM :

市場上*高的分辨率和靈敏度

更好的算法，更好的鎖相靈敏度

易用使用，自動調用智能算法

ResiScope :

10個數(shù)量級測量范圍——從100Ω~1TΩ之間（競爭者*多只覆蓋了7個數(shù)量級）

較低的電流流經探針/樣品（不會局部氧化，不會因為高電流損害探針/樣品）

同時兼容AC模式成像和EFM/MFM 模式或者HD-KFM 模式，不用做任何變動而丟失樣品的位置！

 Soft-ResiScope :

仍然有10個數(shù)量級的測量范圍，更適合軟性樣品成像和電阻/電流測量。

適用于多種環(huán)境的測量

溫度控制：

*高可達200°

對于壓電器件可以進行更穩(wěn)定的加熱分離（不漂移）

與大氣控制、液體模式和所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

大氣控制（氣體和濕度）：

濕度控制不會損害光電探測器和激光器

光電探測器和激光器可以正常調節(jié)對齊

容易和快速設置

與所有電測量模式(KFM,CAFM, ResiScope…) 相兼容

液體測量：

壓電保護

激光容易對準（可以利用頂部CCD在空氣中對準激光）

非常穩(wěn)定的輕敲模式的使用

高品質的測量

平移式壓電掃描器：

三軸獨立

低噪音，具有原子級分辨率

*大100μm掃描，Z方向9μm

 智能化AFM

低噪聲低功耗相干激光器

低噪音控制器（低電壓驅動壓電掃描器）

24位DAC控制

大范圍掃描，高分辨率，且無需更換掃描器。

易于使用

自動調諧集成鎖相

自動設置的電子系統(tǒng)

頂部和側面CCD視圖

直觀的軟件和預先配置的AFM模式

主要的參數(shù)指標

1、XY掃描分辨率： 0.06nm

2、Z掃描分辨率： 0.006nm

3、掃描范圍：XY向100um，Z向9um

4、超低噪音高壓：典型值：＜0.01 mV RMS

5、數(shù)據(jù)采樣點：高達4096

6、DAC輸出：6個D/A轉換器-24位

7、ADC輸入：8個A/D轉換器-16位

8、集成鎖相：高達6MHz

9、控制器電源：AC 100~240 V,47~63 Hz

10、計算機接口：USB2.0/3.0

11、運行環(huán)境：運行于Windows XP/7/8/10操作系統(tǒng)

CSI原子力顯微鏡應用領域

金屬，納米材料，高分子聚合物，薄膜&涂層，DNA，蛋白質，半導體，光電材料，

太陽能電池，蓄電池，電化學領域，磁性材料，壓電領域，分子電子或組織，導電材料表面表征…

CSI原子力顯微鏡應用實例

C36分子    掃描范圍250nm                       DNA    掃描范圍1μm

高分子聚合物 (PDES)    掃描范圍12μm

石墨烯   掃描范圍10μm

磁性三角形結構   掃描范圍4.5μm

人造旋轉冰   掃描范圍6.5μm

PFM模式        PZT樣品   掃描范圍10μm

ResiScope模式       半導體摻雜劑表征    掃描范圍4μm