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包裝薄膜基材熱封測試儀QB/T 2358 HST-H3

產(chǎn)品價格: < 面議
產(chǎn)品型號:HST-H3
 牌:Labthink蘭光
公司名稱:濟南蘭光機電技術(shù)有限公司
  地:山東濟南
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產(chǎn)品簡介

包裝薄膜基材熱封測試儀QB/T 2358

產(chǎn)品詳細信息


包裝薄膜基材熱封測試儀QB/T 2358(HST-H3熱封試驗儀)采用熱壓封口法測定塑料薄膜基材、軟包裝復合膜、涂布紙及其它熱封復合膜的熱封溫度、熱封時間、熱封壓力等參數(shù)。熔點、熱穩(wěn)定性、 流動性及厚度不同的熱封材料,會表現(xiàn)出不同的熱封性能,其封口工藝參數(shù)可能差別很大。熱封試驗儀通過其標準化的設計、規(guī)范化的操作,可獲得**的熱封試驗指標。

包裝薄膜基材熱封測試儀,超長熱封面330mm×10mm設計,電腦控制系統(tǒng)機電一體化,操作方便;數(shù)據(jù)LCD大屏幕液晶顯示;高精度壓力控制元器件全套采用國際**品牌產(chǎn)品,加熱元件特殊制造,使用壽命長。

熱封溫度:室溫~300℃(精度±0.2℃)
熱封時間:0.1s~999.9s
熱封壓強:0.05MPa~0.7MPa
熱 封 面:330mm×10mm
熱封加熱形式:單加熱或雙加熱
氣源壓力:≤0.7MPa

包裝薄膜基材熱封測試儀標準:QB/T 2358(ZBY 28004)、ASTM F2029、YBB 00122003

了解詳情請致電:濟南蘭光或登錄官網(wǎng)www.labthink.cn查詢

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