X-RAY熒光測厚儀 X-RAY XULM

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產(chǎn)品價(jià)格： ￥298000.00

產(chǎn)品型號：X-RAY XULM

品牌：德國菲希爾fischer

公司名稱：蘇州圣光儀器有限公司

所在地：江蘇蘇州

瀏覽次數(shù)：12344 次

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產(chǎn)品簡介

X-RAY熒光測厚儀、X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測量，同時(shí)也適于進(jìn)行元素分析。 X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進(jìn)行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進(jìn)行分析。

產(chǎn)品詳細(xì)信息

X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®型以及FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm型X射線光譜儀，用于細(xì)小零部件上鍍層厚度的無損測量和成分分析。FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對未知材料進(jìn)行簡單，快速而***的分析。分析范圍從鋁（Al)到鈾（U），即使含量很小也可以測量。這些獨(dú)特的儀器之所以具有如此強(qiáng)大的性能，是因?yàn)樗褂昧藥х甓鋮s的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分－珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無損和***測量金含量的理想設(shè)備。

X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®型以及FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm型X射線光譜儀簡介

FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細(xì)小零部件上的鍍層厚度和成分分析。

為了使每次測量都能在優(yōu)先的條件下進(jìn)行，XULM配備了可電動(dòng)調(diào)整的多種準(zhǔn)直器及基本濾片。

比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行準(zhǔn)確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。

XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。

本款儀器特別適合用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量

印制線路板上手動(dòng)測量

珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析設(shè)計(jì)理念

FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計(jì)為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺(tái)式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應(yīng)不同樣品平臺(tái)：

XULM：固定平面平臺(tái)

XULM XYm：手動(dòng)X/Y平臺(tái)

高分辨的彩色攝像頭配以強(qiáng)大的放大功能，可以***定位測量位置。

盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。

外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。

通過強(qiáng)大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個(gè)測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。

XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測量儀器。

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析之通用規(guī)范

用途	能量色散X射線熒光光譜儀 (EDXRF) 用于測量鍍層厚度和材料分析
可測量元素范圍	從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可*多同時(shí)測量24種元素
設(shè)計(jì)理念	臺(tái)式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由下往上

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光???儀|熒光光譜分析之X射線源

X射線靶材	帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管
高壓	三種可調(diào)高壓：30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準(zhǔn)直器）	4個(gè)可切換準(zhǔn)直器：標(biāo)準(zhǔn)型(523-440)：圓形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可選 (523-366)：圓形? 0.1mm；? 0.2mm；? 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可選 (524-061)：圓形? 0.1mm；? 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它規(guī)格
基本濾片	3種可切換的基本濾片（標(biāo)準(zhǔn)型：鎳，無，鋁）
測量點(diǎn)大小	取決于測量距離和使用的準(zhǔn)直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實(shí)際的測量點(diǎn)尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準(zhǔn)直器，*小的測量點(diǎn)面積約為? 0.1 mm。
測量距離，如樣品為腔體時(shí)	使用***保護(hù)的DCM（測量距離補(bǔ)償法）功能：測量距離為0 ~ 20 mm時(shí)，為已校準(zhǔn)范圍；測量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準(zhǔn)范圍。

X射線探測器

X射線接收器	比例接收器
二次濾波器	可選：鈷濾波器或鎳濾波器

樣品定位

視頻顯微鏡

高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測量位置十字線刻度和測量點(diǎn)大小經(jīng)過校準(zhǔn)

測量區(qū)域的LED照明亮度可調(diào)節(jié)

放大倍數(shù)

38 x ~184x (光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

樣品臺(tái)	XULM	XULM XYm
設(shè)計(jì)	固定樣品平臺(tái)	手動(dòng)XY平臺(tái)
X/Y方向*大可移動(dòng)范圍	-	50 x 50 mm
樣品放置可用區(qū)域	250 x 280mm
樣品*大重量	2kg
樣品*高高度	240mm

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測厚儀\|x射線測厚儀\|x熒光光譜儀\|熒光光譜分析之電氣參數(shù)
電壓，頻率	AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率	*大為 120 W (測量頭重量，不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級	IP40
儀器規(guī)格
外部尺寸	寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510
重量	約45 kg
內(nèi)部測量艙尺寸	寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240
環(huán)境要求
測量時(shí)溫度	10°C – 40°C / 50°F – 104°F
存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度	0°C – 50°C / 32°F – 122°F
空氣相對濕度	≤ 95 %，無結(jié)露
計(jì)算系統(tǒng)
計(jì)算機(jī)	帶擴(kuò)展卡的Windows®個(gè)人計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件	標(biāo)準(zhǔn)配置：Fischer WinFTM® LIGHT
可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE合格標(biāo)準(zhǔn)	EN 61010
X射線標(biāo)準(zhǔn)	DIN ISO 3497和 ASTM B 568
型式許可	型式許可符合德國”Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的，有完善防護(hù)措施的測量儀器。

FISCHERSCOPE® X-RAY XULM系列X-RAY熒光測厚儀|x射線測厚儀|x熒光光譜儀|熒光光譜分析如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號。

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