四探針四點(diǎn)探針四探針測(cè)試儀四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀四探針四點(diǎn)探針四探針測(cè)試儀四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀 G5B17380B05897

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產(chǎn)品價(jià)格： ￥28000.00

產(chǎn)品型號(hào)：G5B17380B05897

品牌：導(dǎo)入的產(chǎn)品

公司名稱：瞬渺科技（香港）有限公司

所在地：上海嘉定

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

四探針 四點(diǎn)探針 四探針測(cè)試儀 四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀  四探針 四點(diǎn)探針 四探針測(cè)試儀 四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀  \r\n    \r\n查看大圖  四探針 四點(diǎn)探針 四探針測(cè)試儀 四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀 這款緊湊型儀器在所有軸上均可自動(dòng)化，可在不到4分鐘內(nèi)創(chuàng)建100點(diǎn)的薄層電阻和晶圓電阻率映射。 在點(diǎn)擊地圖后將探頭導(dǎo)航到所需位置后，可以重新測(cè)量單點(diǎn)。

產(chǎn)品詳細(xì)信息

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四探針四點(diǎn)探針四探針測(cè)試儀四探針太陽(yáng)能硅片電阻率測(cè)試儀

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這款緊湊型儀器在所有軸上均可自動(dòng)化，可在不到4分鐘內(nèi)創(chuàng)建100點(diǎn)的薄層電阻和晶圓電阻率映射。在點(diǎn)擊地圖后將探頭導(dǎo)航到所需位置后，可以重新測(cè)量單點(diǎn)。

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設(shè)計(jì)：
?可以與其他測(cè)量結(jié)合使用
相同的儀器（請(qǐng)參閱TLM-SCAN ++）
?易于清潔的玻璃真空吸盤(pán)
?關(guān)閉蓋子時(shí)自動(dòng)開(kāi)始測(cè)量
探頭：
?在幾秒內(nèi)更改
?通過(guò)軟件認(rèn)可
?碳化鎢針
?**半徑：0.25毫米
軟件：
?可選顏色方案和數(shù)據(jù)標(biāo)簽顯示的映射
并具有縮放，直方圖，線掃描等功能
?點(diǎn)擊圖像重新測(cè)量單點(diǎn)
?電流掃描測(cè)試線性
?自動(dòng)編號(hào)
規(guī)格：
?10 x 10地圖的持續(xù)時(shí)間：4分鐘。
?*大。測(cè)試電流：30 mA
?重量：16公斤
?L?W?H（cm）：36?48?24
FPP-SCAN
經(jīng)濟(jì)的四點(diǎn)探針映射器
用于日常生產(chǎn)控制

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DESIGN: ? Can be combined with other measurements in same instrument (see TLM-SCAN++) ? Easy-to-clean glass vacuum chuck ? Measurement starts automatically when closing lid PROBE HEADS: ? Changed within seconds ? Recognized by software ? Tungsten carbide needles ? Tip radius: 0.25 mm SOFTWARE: ? Mappings displayed with selectable color scheme and data labeling and functions like zoom, histogram, line-scans ? Re-measure single points by clicking on images ? Current-voltage-sweeps to test linearity ? Auto numbering SPECIFICATIONS: ? Duration for 10 x 10 map: 4 min. ? Max. test current: 30 mA ? Weight: 16 kg ? L ? W ? H in cm: 36 ? 48 ? 24 FPP-SCAN Economical four-point-probe mapper for routine production control

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