四探針電阻率測試儀 HT
產(chǎn)品簡介
由于金屬快體材料的電阻率和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量一般采用四端接線法進(jìn)行測量,為了滿足實(shí)際的要求,本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻率的測量。
產(chǎn)品詳細(xì)信息
四探針電阻率測試儀
由于金屬快體材料的電阻率和金屬薄膜的電阻很低,他們的測量一般采用四端接線法進(jìn)行測量,為了滿足實(shí)際的要求,本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對(duì)不同金屬、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻率的測量。
四探針金屬/半導(dǎo)體電阻率測量儀是北京科技大學(xué)應(yīng)用科學(xué)學(xué)院物理系教師將科研儀器向教學(xué)儀器轉(zhuǎn)化的成果,并在國內(nèi)**被應(yīng)用于大學(xué)工科物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)。
本實(shí)驗(yàn)儀器裝置適用于物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)和科研開發(fā)。特別是在物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)上,用其編排的實(shí)驗(yàn)內(nèi)容豐富、適用面廣、擴(kuò)展性強(qiáng)。
本儀器裝置和實(shí)驗(yàn)內(nèi)容已通過國家工科基礎(chǔ)課程教學(xué)基地鑒定。
主要用途:
半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子薄膜(塊體)材料電阻率的測量
金屬薄膜材料電阻率的測量
金屬塊體材料電阻率的測量
儀器組成及性能:
精密直流電流源電壓表:
電壓輸出范圍:5µV-50V,負(fù)載電流*大為10mA
量程:分五檔20mV、200mV、2V、20V、50V,帶有粗調(diào)和細(xì)調(diào)
輸出電壓顯示:4½位LED
輸出電壓的基本誤差:±(0.1%RD+0.02%FS)
電流輸出范圍:1nA-50mA,*高輸出電壓為5V
量程:分五檔,20µA、200µA、2mA、20mA、50mA,帶有粗調(diào)和細(xì)調(diào)(可擴(kuò)展至200mA)
輸出電流指標(biāo):4½位LED
輸出電流的基本誤差:±(0.03%RD+0.02%FS)
高精度直流數(shù)字電壓表:
電壓測量范圍:0.1µV—1000V直流電壓
測量電壓顯示:6½位LED
接口:RS232C接口
四探針平臺(tái)及組件
由底盤,樣品平臺(tái)以及在樣品平臺(tái)上安置的四探針組成。四探針組件是由具有引線的四根探針組成。四根探針被固定在一個(gè)架子上,相鄰兩探針的間距為3毫米,探針針尖的直徑約為200微米。
- 新加產(chǎn)品 | 公司介紹
- 會(huì)員等級(jí): 免費(fèi)會(huì)員
- 注冊(cè)時(shí)間: 2009-07-27
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